يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"ultrashallow junctions"', وقت الاستعلام: 0.67s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Stability Characterization of High-Sensitivity Silicon-Based EUV Photodiodes in a Detrimental Environment

    المؤلفون: Shi, L., Nihtianov, S., Nanver, L. K., Scholze, F.

    المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 13(5):1699-1707 May, 2013

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء