-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6
المؤلفون: Dirk Schwantuschke, Sayed Ali Albahrani, Lars Heuken, Joachim N. Burghartz, Thomas Gneiting, Sourabh Khandelwal
المساهمون: Publica
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices. 67:455-462
مصطلحات موضوعية: Poole-Frenkel (PF) emission, Surface (mathematics), Materials science, Thermionic emission, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, High-electron-mobility transistor, 01 natural sciences, law.invention, law, compact model, gate leakage current, 0103 physical sciences, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Electrical and Electronic Engineering, Quantum tunnelling, 010302 applied physics, Fowler-Nordheim (FN) tunneling, business.industry, Transistor, Thermal conduction, Electronic, Optical and Magnetic Materials, GaN high-electron mobility transistor (HEMT), Optoelectronics, business, hermionic emission (TE), AND gate, Hardware_LOGICDESIGN, Voltage
-
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.