-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Liudong Xing, Shrestha, Akhilesh, Meshkat, Leila, Wendai Wang
المصدر: IEEE Transactions on Reliability; Mar2009, Vol. 58 Issue 1, p10-19, 10p, 8 Diagrams, 4 Charts
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Xiaolin Teng, Hoang Pham, Jeske, Daniel R.
المصدر: IEEE Transactions on Reliability; Dec2006, Vol. 55 Issue 4, p571-577, 7p, 1 Chart, 1 Graph
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Jie Wu, Zhen Jiang
المصدر: IEEE Transactions on Reliability; Sep2005, Vol. 54 Issue 3, p449-458, 10p