-
1
المؤلفون: Siegfried Hunklinger, Stefan W. Hell, S. Witting, M. Neiger, E. Smolka, Manfred von Schickfus, R. W. Wijnaendts Van Resandt
المصدر: Journal of Microscopy. 163:179-187
مصطلحات موضوعية: Conventional transmission electron microscope, Scanning Hall probe microscope, Histology, Atomic de Broglie microscope, Materials science, Microscope, business.industry, Pathology and Forensic Medicine, law.invention, Scanning probe microscopy, Optics, law, Microscopy, 4Pi microscope, Electron microscope, business
-
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.