يعرض 1 - 10 نتائج من 242 نتيجة بحث عن '"Crystallographic defect"', وقت الاستعلام: 1.44s تنقيح النتائج
  1. 1
  2. 2
  3. 3
  4. 4
  5. 5
  6. 6
  7. 7

    المصدر: Liliental-Weber, Zuzanna; & Cherns, David. (2001). Microstructure of laterally overgrown GaN layers. Lawrence Berkeley National Laboratory. Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/9pb9g8f9

    وصف الملف: application/pdf

  8. 8
  9. 9
  10. 10