-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Shan, F. K., Liu, G. X., Lee, W. J., Lee, G. H., Kim, I. S., Shin, B. C.
المصدر: Journal of Applied Physics; 7/15/2005, Vol. 98 Issue 2, p023504, 6p, 1 Color Photograph, 1 Black and White Photograph, 1 Chart, 9 Graphs
مصطلحات موضوعية: THIN films, SILICON, SAPPHIRES, OPTICAL diffraction, SPECTROPHOTOMETERS, ELLIPSOMETRY, REFRACTIVE index