يعرض 1 - 10 نتائج من 21 نتيجة بحث عن '"Fault model"', وقت الاستعلام: 0.88s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Test Generation and Fault Simulation for Cell Fault Model using Stuck-at Fault Model based Test Tools

    المؤلفون: Psarakis, M., Gizopoulos, D., Paschalis, A.

    المصدر: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. December 1998 13(3):315-319

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    VFSim: Concurrent Fault Simulation at Register Transfer Level

    المؤلفون: Shen, Li

    المصدر: Journal of Computer Science and Technology. March 2005 20(2):175-186

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Easily Testable Cellular Carry Lookahead Adders

    المؤلفون: Gizopoulos, Dimitris, Psarakis, Mihalis, Paschalis, Antonis, Zorian, Yervant

    المصدر: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. June 2003 19(3):285-298

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Fault Models and Test Procedures for Flash Memory Disturbances

    المؤلفون: Mohammad, Mohammad Gh., Saluja, Kewal K., Yap, Alex S.

    المصدر: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. December 2001 17(6):495-508

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Fault Models and Test Generation for OpAmp Circuits—The FFM

    المؤلفون: Calvano, José Vicente, de Mesquita Filho, Antônio Carneiro, Alves, Vladimir Castro, Lubaszewski, Marcelo Soares

    المصدر: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. April 2001 17(2):121-138

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Estimation of Strong Ground Motion Due to Hypothetical Fault Ruptures and Comparison with Recorded Values: The Zakynthos, Western Greece Earthquake of 18 November 1997

    المؤلفون: Makaris, D. I., Theodulidis, N. P., Stavrakakis, G. N.

    المصدر: Natural Hazards: Journal of the International Society for the Prevention and Mitigation of Natural Hazards. May 2000 21(2-3):297-315

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Fault macromodeling and a testing strategy for opamps

    المؤلفون: Pan, Chen-Yang, Cheng, Kwang-Ting, Gupta, Sandeep

    المصدر: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. December 1996 9(3):225-235

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    C-Testable modified-Booth multipliers

    المؤلفون: Gizopoulos, Dimitris, Nikolos, Dimitris, Paschalis, Antonis, Halatsis, Constantin

    المصدر: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. June 1996 8(3):241-260

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    On local transformations and path delay fault testability

    المؤلفون: Hengster, Harry, Drechsler, Rolf, Becker, Bernd

    المصدر: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. December 1995 7(3):173-191

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية
    A realistic defect oriented testability methodology for analog circuits

    المؤلفون: Sachdev, Manoj

    المصدر: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. June 1995 6(3):265-276

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء