يعرض 1 - 10 نتائج من 1,132 نتيجة بحث عن '"ITERATIVE decoding"', وقت الاستعلام: 0.85s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Renna, R.B.D., de Lamare, R.C.

    المصدر: IEEE Transactions on Vehicular Technology IEEE Trans. Veh. Technol. Vehicular Technology, IEEE Transactions on. 73(5):7418-7423 May, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Cheng, Y., Chen, W., Li, L., Ai, B.

    المصدر: IEEE Transactions on Vehicular Technology IEEE Trans. Veh. Technol. Vehicular Technology, IEEE Transactions on. 73(5):7374-7378 May, 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Zhang, X.

    المصدر: IEEE Transactions on Vehicular Technology IEEE Trans. Veh. Technol. Vehicular Technology, IEEE Transactions on. 73(5):7333-7338 May, 2024

  4. 4
    مؤتمر

    المؤلفون: Yang, Hao, Zhang, Min, Wei, Daimeng

    المصدر: 2024 20th IEEE International Colloquium on Signal Processing & Its Applications (CSPA) Signal Processing & Its Applications (CSPA), 2024 20th IEEE International Colloquium on. :30-34 Mar, 2024

    Relation: 2024 20th IEEE International Colloquium on Signal Processing & Its Applications (CSPA)

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Chauhan, A., Jaiswal, A.

    المصدر: IEEE Transactions on Vehicular Technology IEEE Trans. Veh. Technol. Vehicular Technology, IEEE Transactions on. 73(2):2374-2389 Feb, 2024

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Li, X., Yang, T.

    المصدر: IEEE Transactions on Vehicular Technology IEEE Trans. Veh. Technol. Vehicular Technology, IEEE Transactions on. 73(2):2889-2894 Feb, 2024

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Vehicular Technology IEEE Trans. Veh. Technol. Vehicular Technology, IEEE Transactions on. 73(2):2045-2060 Feb, 2024

  8. 8
    مؤتمر

    المؤلفون: Boncalo, Oana, Amaricai, Alexandru

    المصدر: 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2023 IEEE International Symposium on. :1-4 Oct, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Timokhin, I., Ivanov, F.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 12:86639-86648 2024

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Lee, C., Park, C., Back, S., Oh, W.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 12:72098-72104 2024