يعرض 1 - 10 نتائج من 195 نتيجة بحث عن '"electron holography"', وقت الاستعلام: 0.85s تنقيح النتائج
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    المساهمون: A.F. Ioffe Physical-Technical Institute, Russian Academy of Sciences [Moscow] (RAS), Matériaux et dispositifs pour l'Electronique et le Magnétisme (CEMES-MEM), Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales (CEMES), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT), Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

    المصدر: Nanomaterials
    Nanomaterials, 2022, 12 (12), pp.1967. ⟨10.3390/nano12121967⟩
    Nanomaterials; Volume 12; Issue 12; Pages: 1967

    وصف الملف: application/pdf

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    المصدر: Journal of magnetism and magnetic materials 543, 168535-(2022). doi:10.1016/j.jmmm.2021.168535
    Journal of magnetism and magnetic materials : MMM 543, 168535 (2022). doi:10.1016/j.jmmm.2021.168535 special issue: "Magnetic materials: microstructure, nanoscience, and applications in information technologies & biomedicine-In honor of Prof. Kannan Krishnan / edited by Yuping Bao, Wei Zhang, Erol Girt, María Varela del Arco, Yasukazu Murakami, Urs Hafeli"

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    المساهمون: Interférométrie, In situ et Instrumentation pour la Microscopie Electronique (CEMES-I3EM), Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales (CEMES), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT-FR 2599), Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM), Consejo Superior de Investigaciones Científicas [Madrid] (CSIC), Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid – CSIC, 28049 Madrid, Spain, Centro de Excelencia en Nuevos Materiales, Universidad del Valle, A.A. 25360, Cali, Colombia, ANR-10-EQPX-0038,MIMETIS,Microscopie Interférométrique et Microscopie Electronique en Transmission In Situ(2010), ANR-17-CE24-0047,IODA,Microscopie électronique in operando pour l'analyse de composants(2017), European Project: 823717,ESTEEM3, Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT), Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centro de Excelencia en Nuevos Materiales, Universidad del Valle [Cali] (Univalle), Centre de microcaractérisation Raimond Castaing (Centre Castaing), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse)

    المصدر: ACS Nano
    ACS Nano, American Chemical Society, 2020, 14 (2), pp.1399-1405. ⟨10.1021/acsnano.9b07448⟩
    ACS Nano, American Chemical Society, 2019, 14, pp.1399-1405. ⟨10.1021/acsnano.9b07448⟩
    ACS Nano, 2019, 14 (2), pp.1399-1405. ⟨10.1021/acsnano.9b07448⟩

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    المساهمون: Tampere University, Physics, Electrical Engineering, Semiconductor Nanostructures and Impurities, Center for Quantum Materials and Technology Eindhoven, Photonics and Semiconductor Nanophysics

    المصدر: Hakkarainen, T, Piton, M R, Fiordaliso, E M, Leshchenko, E D, Koelling, S, Bettini, J, Avanco Galeti, H V, Koivusalo, E, Gobato, Y G, Rodrigues, A D G, Lupo, D, Koenraad, P M, Leite, E R, Dubrovskii, V G & Guina, M 2019, ' Te incorporation and activation as n-type dopant in self-catalyzed GaAs nanowires ', Physical Review Materials, vol. 3, no. 8, 086001 . https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.3.086001
    Physical Review Materials, 3(8):086001. American Physical Society

    وصف الملف: fulltext; application/pdf