-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4
المؤلفون: Scholze, Frank, Haase, Anton, Krumrey, Michael, Soltwisch, Victor, Wernecke, Jan
المساهمون: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
مصطلحات موضوعية: nanostrukturierte Oberflächen, EUV-Scatterometrie, Röntgenkleinwinkelstreuung, EUVL-Photomasken, GISAXS
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::37690d33f86ea573205a1754a90ce236
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Pflüger, Mika, Soltwisch, Victor, Xavier, Jolly, Probst, Jürgen, Scholze, Frank, Becker, Christiane, Krumrey, Michael
المصدر: Journal of Applied Crystallography; Apr2019, Vol. 52 Issue 2, p322-331, 10p
مصطلحات موضوعية: QUASICRYSTALS, PHOTONIC crystals, CRYSTAL structure, GRAZING incidence, SMALL-angle X-ray scattering
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
المؤلفون: Scholze, Frank, Laubis, Christian, Barboutis, Annett, Buchholz, Christian, Fischer, Andreas, Puls, Jana, Stadelhoff, Christian, Haase, Anton, Krumrey, Michael, Soltwisch, Victor, Wernecke, Jan, Garcia-Diez, Raul, Gollwitzer, Christian, Langner, Stefanie, Müller, Matthias, Gerlach, Martin, Holfelder, Ina, Hönicke, Philipp, Lubeck, Janin, Nutsch, Andreas, Pollakowski, Beatrix, Streeck, Cornelia, Unterumsberger, Rainer, Weser, Jan, Beckhoff, Burkhard, Hermann, Peter, Hoehl, Arne, Hornemann, Andrea, Kästner, Bernd, Müller, Ralph, Ulm, Gerhard, Kolbe, Michael, Darlatt, Erik, Fliegauf, Rolf, Kaser, Hendrik, Gottwald, Alexander, Richter, Mathias
المساهمون: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
مصطلحات موضوعية: Energiematerialien, Weltrauminstrumente, Nanostrukturen, EUV-Lithographie (EUVL), dimensionelle Nanometrologie, Fundamentalparameter, elektronische Struktur, EUVL-Photomasken, NEXAFS, nanostrukturierte Oberflächen, EUV-Strahlung, Halbleiterbauelemente, Ellipsometrie, Elektronenspektroskopie, EUVL, organische Halbleiter, GISAXS, referenzprobenfreie Röntgenfluoreszenzanalytik, Spiegel, EUV-Scatterometrie, Nanopartikel, Nanoschichten, Röntgenkleinwinkelstreuung, SAXS, THz-Detektoren, optische Konstanten, Optik, IR-Nahfeldmikroskopie, kohärente Synchrotronstrahlung, Elementgehalte, Reflektometrie, chemische Speziation, Biomoleküle, FTIR-Spektroskopie
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::95b016f2ee0abbd67efca56a63c4526e
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.