يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"boundary scan test"', وقت الاستعلام: 0.81s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Closing technology knowledge gaps: Projects arising from the iNEMI technology roadmap

    المؤلفون: Pfahl, Bob, Arnold, Jim, O'Malley, Grace

    المصدر: 2009 European Microelectronics and Packaging Conference Microelectronics and Packaging Conference, 2009. EMPC 2009. European. :1-5 Jun, 2009

    Relation: 2009 European Microelectronics and Packaging Conference (EMPC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء