يعرض 1 - 4 نتائج من 4 نتيجة بحث عن '"ultrashallow junctions"', وقت الاستعلام: 0.81s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Atomistic Modeling of Pocket Dopant Deactivation and Its Impact on $V_{\textrm {th}}$ Variation in Scaled Si Planar Devices Using an Atomistic Kinetic Monte Carlo Approach

    المؤلفون: Noda, T., Vrancken, C., Vandervorst, W.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 62(6):1789-1795 Jun, 2015

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء