يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن '"boundary scan test"', وقت الاستعلام: 0.75s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    The Increasing Importance of Utilizing Non-intrusive Board Test Technologies for Printed Circuit Board Defect Coverage

    المؤلفون: Johnson, Michael R.

    المصدر: 2018 IEEE AUTOTESTCON IEEE AUTOTESTCON, 2018. :1-5 Sep, 2018

    Relation: 2018 IEEE AUTOTESTCON

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    An approach to generating test data sequences of boundary scan test system

    المؤلفون: Xiaopeng, Deng, Simao, Xu, Yong, Zhang

    المصدر: 2013 IEEE 11th International Conference on Electronic Measurement & Instruments Electronic Measurement & Instruments (ICEMI), 2013 IEEE 11th International Conference on. 1:264-270 Aug, 2013

    Relation: 2013 IEEE 11th International Conference on Electronic Measurement & Instruments (ICEMI)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء