يعرض 1 - 10 نتائج من 78 نتيجة بحث عن '"Fujiwara H"', وقت الاستعلام: 1.37s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    A Framework for Predicting Remaining Useful Life Curve of Rolling Bearings Under Defect Progression Based on Neural Network and Bayesian Method

    المؤلفون: Kitai, M., Kobayashi, T., Fujiwara, H., Tani, R., Numao, M., Fukui, K.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 9:62642-62652 2021

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Temperature characteristics of SH-type acoustic waves in a rotated Y-cut LiTaO/sub 3/ thin plate

    المؤلفون: Fujiwara, H., Yamazaki, D., Nakamura, K.

    المصدر: IEEE Ultrasonics Symposium, 2005. Ultrasonics Symposium, 2005 IEEE. 3:1864-1867 2005

    Relation: IEEE Ultrasonics Symposium, 2005.

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Acceleration of transition test generation for acyclic sequential circuits utilizing constrained combinational stuck-at test generation

    المؤلفون: Iwagaki, T., Ohtake, S., Fujiwara, H.

    المصدر: European Test Symposium (ETS'05) European test symposium Test Symposium, 2005. European. :48-53 2005

    Relation: Proceedings. European Test Symposium. ETS 2005

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Power-Constrained Area and Time Co-Optimization for SoCs Based on Consecutive Testability

    المؤلفون: Yoneda, T., Takakuwa, H., Fujiwara, H.

    المصدر: 14th Asian Test Symposium (ATS'05) Test Symposium, 2005. Proceedings. 14th Asian. :150-155 2005

    Relation: 2005 14th Asian Test Symposium

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    Design for Testability Based on Single-Port-Change Delay Testing for Data Paths

    المؤلفون: Yoshikaw, Y., Ohtake, S., Inoue, M., Fujiwara, H.

    المصدر: 14th Asian Test Symposium (ATS'05) Test Symposium, 2005. Proceedings. 14th Asian. :254-259 2005

    Relation: 2005 14th Asian Test Symposium

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Using Weighted Scan Enable Signals to Improve the Effectiveness of Scan-Based BIST

    المؤلفون: Dong Xiang, Mingjing Chen, Fujiwara, H.

    المصدر: 14th Asian Test Symposium (ATS'05) Test Symposium, 2005. Proceedings. 14th Asian. :126-131 2005

    Relation: 2005 14th Asian Test Symposium

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    A Class of Linear Space Compactors for Enhanced Diagnostic

    المؤلفون: Clouqueur, T., Fujiwara, H., Saluja, K.K.

    المصدر: 14th Asian Test Symposium (ATS'05) Test Symposium, 2005. Proceedings. 14th Asian. :260-265 2005

    Relation: 2005 14th Asian Test Symposium

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Design for Cost Effective Scan Testing by Reconfiguring Scan Flip-Flops

    المؤلفون: Dong Xiang, Kai wei Li, Fujiwara, H.

    المصدر: 14th Asian Test Symposium (ATS'05) Test Symposium, 2005. Proceedings. 14th Asian. :318-323 2005

    Relation: 2005 14th Asian Test Symposium

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    An Effective Design for Hierarchical Test Generation Based on Strong Testability

    المؤلفون: Ichihara, H., Inoue, T., Okamoto, N., Hosokawa, T., Fujiwara, H.

    المصدر: 14th Asian Test Symposium (ATS'05) Test Symposium, 2005. Proceedings. 14th Asian. :288-293 2005

    Relation: 2005 14th Asian Test Symposium

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    A DFT Method for RTL Data Paths Based on Partially Strong Testability to Guarantee Complete Fault Efficiency

    المؤلفون: Iwata, H., Yoneda, T., Ohtake, S., Fujiwara, H.

    المصدر: 14th Asian Test Symposium (ATS'05) Test Symposium, 2005. Proceedings. 14th Asian. :306-311 2005

    Relation: 2005 14th Asian Test Symposium

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء