-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Tamaoka, TakehiroAff1, IDs40830023004171_cor1, Okamoto, Satoshi, Murakami, YasukazuAff1, Aff3, IDs40830023004171_cor3
المصدر: Shape Memory and Superelasticity: Advances in Science and Technology. 9(2):293-299
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Yuan, Mingyue, Lv, Hualiang, Cheng, Hanwen, Zhao, Biao, Chen, Guanyu, Zhang, Jincang, Che, Renchao
المصدر: Advanced Functional Materials; 8/15/2023, Vol. 33 Issue 33, p1-14, 14p
-
3كتاب إلكتروني
المؤلفون: Sugawara, AkiraAff3
المساهمون: Franco, Victorino, editorAff1, Dodrill, Brad, editorAff2
المصدر: Magnetic Measurement Techniques for Materials Characterization. :247-271
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Eom, Kitae, Paik, Hanjong, Seo, Jinsol, Campbell, Neil, Tsymbal, Evgeny Y., Oh, Sang Ho, Rzchowski, Mark S., Schlom, Darrell G., Eom, Chang‐Beom
المصدر: Advanced Science; Apr2022, Vol. 9 Issue 12, p1-8, 8p
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Asari, Yusuke, Terada, Shohei, Tanigaki, Toshiaki, Takahashi, Yoshio, Shinada, Hiroyuki, Nakajima, Hiroshi, Kanie, Kiyoshi, Murakami, Yasukazu
المصدر: Microscopy; Oct2021, Vol. 70 Issue 5, p442-449, 8p
مصطلحات موضوعية: CONVOLUTIONAL neural networks, IMAGE processing, SIGNAL-to-noise ratio, ELECTRON holography, TRANSMISSION electron microscopy, ELECTROMAGNETIC fields
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Zhang, Yue, Lu, Peng-Han, Rotunno, Enzo, Troiani, Filippo, van Schayck, J. Paul, Tavabi, Amir H., Dunin-Borkowski, Rafal E., Grillo, Vincenzo, Peters, Peter J., Ravelli, Raimond B. G.
المصدر: Journal of Synchrotron Radiation; Sep2021, Vol. 28 Issue 5, p1343-1356, 14p
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Manabu Ishimaru
المصدر: Materials Transactions; 2021, Vol. 62 Issue 9, p1420-1423, 4p
مصطلحات موضوعية: TRANSMISSION electron microscopy, ELECTRON microscopy, STRUCTURAL analysis (Engineering), ELECTRON holography, HOLOGRAPHY
-
8كتاب إلكتروني
المؤلفون: Krishnan, Kannan M., author
المصدر: Principles of Materials Characterization and Metrology, 2021, ill.
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Nomura, Yuki, Yamamoto, Kazuo, Anada, Satoshi, Hirayama, Tsukasa, Igaki, Emiko, Saitoh, Koh
المصدر: Microscopy; Jun2021, Vol. 70 Issue 3, p255-264, 10p
مصطلحات موضوعية: ELECTRON holography, HOLOGRAPHY, P-N junctions (Semiconductors), SIGNAL-to-noise ratio, ELECTRONS
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Turnbaugh, Carter, Axelrod, Jeremy J., Campbell, Sara L., Dioquino, Jeske Y., Petrov, Petar N., Remis, Jonathan, Schwartz, Osip, Yu, Zanlin, Cheng, Yifan, Glaeser, Robert M., Mueller, Holger
المصدر: Review of Scientific Instruments; May2021, Vol. 92 Issue 5, p1-9, 9p