لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المساهمون: Krapp, C

المصدر: Conference: South Carolina Academy of Sciences meeting, Columbia, SC, USA, 26 Mar 1981

وصف الملف: Medium: X; Size: Pages: 17

URL الوصول: http://www.osti.gov/scitech/biblio/6549799

المساهمون: Krapp, C

المصدر: pp 996-1016 of Electron microscopy and structure of materials. Thomas, G. (ed). Berkeley and Los Angeles, California Univ. of California Press, 1972.; Other Information: From 5. international materials symposium on the structure and properties of materials-techniques and applications of electron microscopy, Berkeley, California, USA, 13 Sep 1971, 17 Sep 1971. See CONF-710916--. Orig. Receipt Date: 30-JUN-73

وصف الملف: Medium: X

URL الوصول: http://www.osti.gov/scitech/biblio/4529600