-
51دورية أكاديمية
المؤلفون: Kunal, K., Dhar, T., Madhusudan, M., Poojary, J., Sharma, A.K., Xu, W., Burns, S.M., Hu, J., Harjani, R., Sapatnekar, S.S.
المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 42(9):2801-2814 Sep, 2023
-
52دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Systems Journal Systems Journal, IEEE. 17(3):4371-4382 Sep, 2023
-
53دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Systems Journal Systems Journal, IEEE. 17(3):4360-4370 Sep, 2023
-
54دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Internet of Things Journal IEEE Internet Things J. Internet of Things Journal, IEEE. 10(15):13920-13932 Aug, 2023
-
55دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems IEEE Trans. Neural Netw. Learning Syst. Neural Networks and Learning Systems, IEEE Transactions on. 34(8):5144-5155 Aug, 2023
-
56دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems IEEE Trans. Neural Netw. Learning Syst. Neural Networks and Learning Systems, IEEE Transactions on. 34(8):3925-3938 Aug, 2023
-
57دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 42(8):2591-2603 Aug, 2023
-
58دورية أكاديمية
المؤلفون: Li, Chen, Cao, YangAff2, IDs116330231440x_cor2, Zhu, Ye, Cheng, Debo, Li, Chengyuan, Morimoto, Yasuhiko
المصدر: Machine Intelligence Research. 21(3):481-494
-
59دورية أكاديمية
المؤلفون: Wei, Lan, Freris, Nikolaos M.Aff1, IDs00371024034026_cor2
المصدر: The Visual Computer: International Journal of Computer Graphics. :1-11
-
60دورية أكاديمية
المؤلفون: Hakhamaneshi, K., Nassar, M., Phielipp, M., Abbeel, P., Stojanovic, V.
المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 42(7):2163-2173 Jul, 2023