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1دورية أكاديمية
المؤلفون: Loïc Rousseau, Antoine Normand, Felipe F. Morgado, Hanne-Sofie Marie Scisly Søreide, Leigh T. Stephenson, Constantinos Hatzoglou, Gérald Da Costa, Kambiz Tehrani, Christoph Freysoldt, Baptiste Gault, François Vurpillot
المصدر: Communications Physics, Vol 6, Iss 1, Pp 1-8 (2023)
مصطلحات موضوعية: Astrophysics, QB460-466, Physics, QC1-999
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2399-3650
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2دورية أكاديمية
المؤلفون: Shyam Katnagallu, Leigh T Stephenson, Isabelle Mouton, Christoph Freysoldt, Aparna P A Subramanyam, Jan Jenke, Alvin N Ladines, Steffen Neumeier, Thomas Hammerschmidt, Ralf Drautz, Jörg Neugebauer, François Vurpillot, Dierk Raabe, Baptiste Gault
المصدر: New Journal of Physics, Vol 21, Iss 12, p 123020 (2019)
مصطلحات موضوعية: analytical-field ion microscopy, time-of-flight mass-spectroscopy, atomic resolution, dislocation segregation, density functional theory, Science, Physics, QC1-999
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/1367-2630
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3
المؤلفون: Samba Ndiaye, Christian Bacchi, Benjamin Klaes, Mariaconcetta Canino, François Vurpillot, Lorenzo Rigutti
المصدر: The Journal of Physical Chemistry C. 127:5467-5478
مصطلحات موضوعية: General Energy, Physical and Theoretical Chemistry, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials
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4
المؤلفون: Constantinos Hatzoglou, Gérald Da Costa, Peter Wells, Xiaochen Ren, Brian P Geiser, David J Larson, Remi Demoulin, Kasper Hunnestad, Etienne Talbot, Baishakhi Mazumder, Dennis Meier, François Vurpillot
المساهمون: Groupe de physique des matériaux (GPM), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Department of Materials Science and Engineering [Trondheim] (IMA NTNU), Norwegian University of Science and Technology [Trondheim] (NTNU), Norwegian University of Science and Technology (NTNU)-Norwegian University of Science and Technology (NTNU), Intel Corporation [Hillsboro], Intel Corporation [USA], Cameca, University at Buffalo [SUNY] (SUNY Buffalo), State University of New York (SUNY)
المصدر: Microscopy and Microanalysis
Microscopy and Microanalysis, 2023, 29 (3), pp.1124-1136. ⟨10.1093/micmic/ozad054⟩مصطلحات موضوعية: multilayered structure, atom probe tomography, field evaporation simulation, [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci], dynamic reconstruction, Instrumentation
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ef92547619e485f3f3b5fa590dcf0cf0
https://normandie-univ.hal.science/hal-04152106 -
5
المؤلفون: Constantinos HATZOGLOU, Benjamin Klaes, Fabien Delaroche, Gérald Da Costa, Brian Geiser, Markus Kühbach, Peter B. Wells, François Vurpillot
المصدر: Journal of Physics D: Applied Physics.
مصطلحات موضوعية: Acoustics and Ultrasonics, Condensed Matter Physics, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials
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6
المؤلفون: Felipe F. Morgado, Leigh Stephenson, Loic Rousseau, François Vurpillot, Simon Evertz, Jochen M Schneider, Baptiste Gault
المساهمون: Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max-Planck-Gesellschaft, Groupe de physique des matériaux (GPM), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Normandie Université (NU), Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen University (RWTH)
المصدر: Microscopy and Microanalysis
Microscopy and Microanalysis, inPress, ⟨10.1093/micmic/ozad039⟩مصطلحات موضوعية: analytical field ion microscopy, atom probe tomography, time-of-flight spectrometry, atomic resolution, [PHYS.PHYS.PHYS-INS-DET]Physics [physics]/Physics [physics]/Instrumentation and Detectors [physics.ins-det], [PHYS.COND]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat], Instrumentation, correlation filtering
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c4b79163e812ddcc78a55895ecd816d3
https://normandie-univ.hal.science/hal-04056079 -
7
المؤلفون: Loïc Rousseau, Jean-Baptiste Maillet, Leigh Stephenson, Benoit Gervais, Baptiste Gault, François Vurpillot
المساهمون: Groupe de physique des matériaux (GPM), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max-Planck-Gesellschaft, Centre de recherche sur les Ions, les MAtériaux et la Photonique (CIMAP - UMR 6252), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Microscopy and Microanalysis
Microscopy and Microanalysis, 2022, 28 (S1), pp.690-691. ⟨10.1017/S1431927622003233⟩مصطلحات موضوعية: [PHYS.COND]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat], Instrumentation
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8
المؤلفون: Enrico Di Russo, Francesco Sgarbossa, Pierpaolo Ranieri, Gianluigi Maggioni, Samba Ndiaye, Sébastien Duguay, François Vurpillot, Lorenzo Rigutti, Jean-Luc Rouvière, Vittorio Morandi, Davide De Salvador, Enrico Napolitani
المساهمون: Dipartimento di Fisica e Astronomia [Bologna], Alma Mater Studiorum Università di Bologna [Bologna] (UNIBO), Groupe de physique des matériaux (GPM), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Magnetic Resonance (RM ), Modélisation et Exploration des Matériaux (MEM), Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Consiglio Nazionale delle Ricerche [Bologna] (CNR)
المصدر: Applied Surface Science
Applied Surface Science, 2023, 612, pp.155817. ⟨10.1016/j.apsusc.2022.155817⟩مصطلحات موضوعية: General Physics and Astronomy, Surfaces and Interfaces, General Chemistry, Condensed Matter Physics, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, Surfaces, Coatings and Films, germanium, GeSn, strain, pulsed laser melting, tin, germanium, tin, GeSn, pulsed laser melting, strain, defects, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, defects
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9
المؤلفون: Charly Vaudolon, Jonathan Houard, Gérald Da Costa, Christian Bacchi, François Vurpillot, Antoine Normand, Fabien Cuvilly, Emmanuel Cadel
المساهمون: Groupe de physique des matériaux (GPM), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)
المصدر: Microscopy and Microanalysis
Microscopy and Microanalysis, 2022, 28 (4), pp.1076-1091. ⟨10.1017/S1431927621012708⟩مصطلحات موضوعية: Physics - Instrumentation and Detectors, Materials science, Silicon, position-energy-sensitive detector, chemistry.chemical_element, FOS: Physical sciences, 02 engineering and technology, Atom probe, Kinetic energy, 01 natural sciences, Secondary electrons, law.invention, Ion, Optics, law, 0103 physical sciences, [PHYS.PHYS.PHYS-INS-DET]Physics [physics]/Physics [physics]/Instrumentation and Detectors [physics.ins-det], 010306 general physics, Instrumentation, Condensed Matter - Materials Science, mass peak overlaps, business.industry, Detector, Materials Science (cond-mat.mtrl-sci), Instrumentation and Detectors (physics.ins-det), 021001 nanoscience & nanotechnology, equipment and supplies, [PHYS.PHYS.PHYS-GEN-PH]Physics [physics]/Physics [physics]/General Physics [physics.gen-ph], 3. Good health, chemistry, atom probe tomography, carbon foil, Cemented carbide, 0210 nano-technology, business, Carbon
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10
المؤلفون: Yongqiang Wang, Zhe Fan, Constantinos Hatzoglou, Karren L. More, Baptiste Gault, Jonathan D. Poplawsky, Xing Wang, Hongbin Bei, François Vurpillot, Wei Guo, Yanwen Zhang, Ke Jin, Brian T. Sneed, Di Chen, William J. Weber
المساهمون: Laboratoire de Géologie de Lyon - Terre, Planètes, Environnement [Lyon] (LGL-TPE), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences de l'Univers (INSU - CNRS)-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-École normale supérieure - Lyon (ENS Lyon), Groupe de physique des matériaux (GPM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU), Department of Biology, Northern Arizona University [Flagstaff], Service d'étude en Géographie économique Fondamentale et Appliquée (SEGEFA), Université de Liège, Clemson University, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max-Planck-Gesellschaft, Oak Ridge National Laboratory [Oak Ridge] (ORNL), UT-Battelle, LLC, Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Los Alamos National Laboratory (LANL), École normale supérieure - Lyon (ENS Lyon)-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut national des sciences de l'Univers (INSU - CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Nature Communications, Vol 11, Iss 1, Pp 1-11 (2020)
Nature Communications
Nature Communications, Nature Publishing Group, 2020, 11 (1), ⟨10.1038/s41467-020-14832-w⟩
Nature Communications, 2020, 11 (1), ⟨10.1038/s41467-020-14832-w⟩مصطلحات موضوعية: Void (astronomy), Materials science, Science, General Physics and Astronomy, 02 engineering and technology, Atom probe, 010402 general chemistry, 01 natural sciences, General Biochemistry, Genetics and Molecular Biology, Article, law.invention, law, Scanning transmission electron microscopy, lcsh:Science, Nanoscopic scale, Multidisciplinary, Nanoscale materials, General Chemistry, Metals and alloys, 021001 nanoscience & nanotechnology, 0104 chemical sciences, Computational physics, [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci], lcsh:Q, 0210 nano-technology, Scanning electron microscopy
وصف الملف: application/pdf