-
1مؤتمر
المؤلفون: Philhower, R., Van Etten, J., Nah, K.S., Loy, C.J., Maier, C., Campbell, P., Grueb, H.J., Li, P., Liu, W.-T., Lu, T.-M., McDonald, J.F.
المصدر: 1993 Proceedings Fifth Annual IEEE International Conference on Wafer Scale Integration Wafer Scale Integration, 1993. Proceedings., Fifth Annual IEEE International Conference on. :318-328 1993
Relation: 1993 Fifth Annual IEEE International Conference on Wafer Scale Integration
-
2مؤتمر
المؤلفون: McDonald, J.F., Donlan, B.J., Russinovich, M.E., Philhower, R., Nah, K.S., Greub, H.
المصدر: 1991 Proceedings, International Conference on Wafer Scale Integration Wafer Scale Integration, 1991. Proceedings., [3rd] International Conference on. :331-340 1991
Relation: 1991 International Conference on Wafer Scale Integration
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.