المؤلفون: Lee, S., Noh, J.-S., Kim, J., Kim, M., Jang, S. Y., Park, J., Lee, W.

المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 12(6):1135-1138 Nov, 2013

المؤلفون: Kim, Y. S., Choi, Y. H., Lee, J. M., Noh, J. S., Kim, J. J., Bien, F.

المصدر: IEEE Transactions on Vehicular Technology IEEE Trans. Veh. Technol. Vehicular Technology, IEEE Transactions on. 60(4):1485-1495 May, 2011

المؤلفون: Suh, D.- S., Kim, K.H.P., Noh, J.-S., Shin, W.-C., Kang, Y.-S., Kim, C., Khang, Y., Yoo, I.K.

المصدر: 2006 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2006. IEDM '06. International. :1-4 Dec, 2006

Relation: 2006 International Electron Devices Meeting

المؤلفون: Kim, Y S, Cheon, K A, Kim, B N, Chang, S A, Yoo, H J, Kim, J W, Cho, S C, Seo, D H, Bae, M O, So, Y K, Noh, J S, Koh, Y J, McBurnett, K, Leventhal, B

المصدر: Yonsei Medical Journal. 45(1)

مصطلحات موضوعية: K-SADS-PL-K, validity, reliability

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://escholarship.org/uc/item/30935603

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.