-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Tan, H.T., Gao, Y., Syaranamual, G.J., Sasangka, W.A., Foo, S.C., Lee, K.H., Arulkumaran, S., Ng, G.I., Thompson, C.V., Gan, C.L.
المصدر: In Microelectronics Reliability November 2023 150
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Made, R.I, Gao, Yu, Syaranamual, G.J., Sasangka, W.A., Zhang, L., Nguyen, Xuan Sang, Tay, Y.Y., Herrin, J.S., Thompson, C.V., Gan, C.L.
المصدر: In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:561-565
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Sasangka, W.A., Syaranamual, G.J., Gao, Y., I Made, R., Gan, C.L., Thompson, C.V.
المصدر: In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:287-291
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Syaranamual, G.J., Sasangka, W.A., Made, R.I., Arulkumaran, S., Ng, G.I., Foo, S.C., Gan, C.L., Thompson, C.V.
المصدر: In Microelectronics Reliability September 2016 64:589-593
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Murugan, Vinod K., Jia, Zhigang, Syaranamual, G.J., Gan, Chee Lip, Huang, Yizhong, Chen, Zhong
المصدر: In Surface & Coatings Technology 25 August 2016 300:95-103
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.