يعرض 1 - 10 نتائج من 436 نتيجة بحث عن '"1T-DRAM"', وقت الاستعلام: 1.40s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Kuo, P.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 45(6):1008-1011 Jun, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(6):3532-3539 Jun, 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Kwon, S., Yun, I.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(6):3627-3632 Jun, 2024

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(5):2950-2956 May, 2024

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 45(4):558-561 Apr, 2024

  6. 6
    مؤتمر

    المصدر: 2022 20th Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS) Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS), 2022 20th. :1-5 Dec, 2022

    Relation: 2022 20th Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS)

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Jang, S.H., Kim, T.W.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(9):4909-4913 Sep, 2022

  8. 8
    مؤتمر

    المصدر: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on. :1-4 Sep, 2021

    Relation: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS)

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 43(3):370-373 Mar, 2022

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Lee, K., Kim, S., Lee, J., Park, B., Kwon, D.

    المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 10:13-18 2022