-
1
المصدر: Microsystems, Electronics and Acoustics; Vol. 28 No. 1 (2023): to the 125th anniversary of Igor Sikorsky KPI; 275010.1-275010.6
Микросистемы, Электроника и Акустика; Том 28 № 1 (2023): до 125-річчя КПІ ім. Ігоря Сікорського; 275010.1-275010.6
Мікросистеми, Електроніка та Акустика; Том 28 № 1 (2023): до 125-річчя КПІ ім. Ігоря Сікорського; 275010.1-275010.6مصطلحات موضوعية: resistivity, фотодіод, responsivity, УДК 621.383.52, чутливість, silicon, photodiode, спектральна характеристика, UDC 621.383.52, spectral characteristic, питомий опір, кремній
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=scientific_p::584a93f2516a82f8245210790fe1f4d2
http://elc.kpi.ua/article/view/275010 -
2
مصطلحات موضوعية: фотодіод, resistivity, responsivity, чутливість, silicon, спектральна характеристика, photodiode, питомий опір, spectral characteristic, 621.383.52, кремній
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635::1784a2e30751883ebfe26710fe6b5967
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/57988 -
3
المصدر: Microsystems, Electronics and Acoustics; Vol. 27 No. 3 (2022); 268299-1-268299-7
Микросистемы, Электроника и Акустика; Том 27 № 3 (2022); 268299-1-268299-7
Мікросистеми, Електроніка та Акустика; Том 27 № 3 (2022); 268299-1-268299-7مصطلحات موضوعية: фотодіод, дислокація, dislocation, клин травлення, dark current, темновий струм, УДК 621.383.52, silicon, photodiode, пробій p-n-переходу, etching wedge, p-n junction breakdown, кремній
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=scientific_p::b986253a612132a21f10efd766b54b8d
http://elc.kpi.ua/article/view/268299 -
4
مصطلحات موضوعية: фотодіод, дислокація, dislocation, клин травлення, темновий струм, dark current, silicon, пробій p-n-переходу, photodiode, etching wedge, 621.383.52, кремній, p-n junction breakdown
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635::ff0bd7fd3c237a2ba9d0cfb6fd710ad6
https://doi.org/10.20535/2523-4455.mea.268299
