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  1. 1
    مؤتمر

    المصدر: 2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2024 IEEE 36th International Conference on. :1-5 Apr, 2024

    Relation: 2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

  2. 2
    تقرير

    المؤلفون: Euclid Collaboration, Castro, T., Fumagalli, A., Angulo, R. E., Bocquet, S., Borgani, S., Costanzi, M., Dakin, J., Dolag, K., Monaco, P., Saro, A., Sefusatti, E., Aghanim, N., Amendola, L., Andreon, S., Baccigalupi, C., Baldi, M., Bodendorf, C., Bonino, D., Branchini, E., Brescia, M., Caillat, A., Camera, S., Capobianco, V., Carbone, C., Carretero, J., Casas, S., Castellano, M., Castignani, G., Cavuoti, S., Cimatti, A., Colodro-Conde, C., Congedo, G., Conselice, C. J., Conversi, L., Copin, Y., Costille, A., Courbin, F., Courtois, H. M., Da Silva, A., Degaudenzi, H., De Lucia, G., Di Giorgio, A. M., Douspis, M., Dupac, X., Dusini, S., Farina, M., Farrens, S., Ferriol, S., Fosalba, P., Frailis, M., Franceschi, E., Fumana, M., Galeotta, S., Gillis, B., Giocoli, C., Gómez-Alvarez, P., Grazian, A., Grupp, F., Guzzo, L., Haugan, S. V. H., Holmes, W., Hormuth, F., Hornstrup, A., Ilić, S., Jahnke, K., Jhabvala, M., Joachimi, B., Keihänen, E., Kermiche, S., Kiessling, A., Kilbinger, M., Kubik, B., Kunz, M., Kurki-Suonio, H., Lilje, P. B., Lindholm, V., Lloro, I., Maiorano, E., Mansutti, O., Marggraf, O., Markovic, K., Martinelli, M., Martinet, N., Marulli, F., Massey, R., Maurogordato, S., Medinaceli, E., Melchior, M., Mellier, Y., Meneghetti, M., Merlin, E., Meylan, G., Moscardini, L., Munari, E., Niemi, S. -M., Padilla, C., Paltani, S., Pasian, F., Pedersen, K., Percival, W. J., Pettorino, V., Pires, S., Polenta, G., Poncet, M., Popa, L. A., Pozzetti, L., Raison, F., Renzi, A., Riccio, G., Romelli, E., Roncarelli, M., Saglia, R., Sakr, Z., Salvignol, J. -C., Sánchez, A. G., Sapone, D., Sartoris, B., Schirmer, M., Secroun, A., Serrano, S., Sirignano, C., Sirri, G., Stanco, L., Steinwagner, J., Tallada-Crespí, P., Taylor, A. N., Tereno, I., Toledo-Moreo, R., Torradeflot, F., Tutusaus, I., Valenziano, L., Vassallo, T., Kleijn, G. Verdoes, Wang, Y., Weller, J., Zacchei, A., Zamorani, G., Zucca, E., Biviano, A., Bolzonella, M., Bozzo, E., Burigana, C., Calabrese, M., Di Ferdinando, D., Vigo, J. A. Escartin, Finelli, F., Gracia-Carpio, J., Matthew, S., Mauri, N., Pezzotta, A., Pöntinen, M., Porciani, C., Scottez, V., Tenti, M., Viel, M., Wiesmann, M., Akrami, Y., Allevato, V., Anselmi, S., Archidiacono, M., Atrio-Barandela, F., Balaguera-Antolinez, A., Ballardini, M., Bertacca, D., Bethermin, M., Blanchard, A., Blot, L., Böhringer, H., Bruton, S., Cabanac, R., Calabro, A., Cañas-Herrera, G., Cappi, A., Caro, F., Carvalho, C. S., Chambers, K. C., Cooray, A. R., De Caro, B., de la Torre, S., Desprez, G., Díaz-Sánchez, A., Diaz, J. J., Di Domizio, S., Dole, H., Escoffier, S., Ferrari, A. G., Ferreira, P. G., Ferrero, I., Finoguenov, A., Fontana, A., Fornari, F., Gabarra, L., Ganga, K., García-Bellido, J., Gasparetto, T., Gautard, V., Gaztanaga, E., Giacomini, F., Gianotti, F., Gozaliasl, G., Gutierrez, C. M., Hall, A., Hildebrandt, H., Hjorth, J., Muñoz, A. Jimenez, Kajava, J. J. E., Kansal, V., Karagiannis, D., Kirkpatrick, C. C., Brun, A. M. C. Le, Graet, J. Le, Legrand, L., Lesgourgues, J., Liaudat, T. I., Loureiro, A., Maggio, G., Magliocchetti, M., Mannucci, F., Maoli, R., Martins, C. J. A. P., Maurin, L., Metcalf, R. B., Miluzio, M., Montoro, A., Mora, A., Moretti, C., Morgante, G., Nadathur, S., Walton, Nicholas A., Pagano, L., Patrizii, L., Popa, V., Potter, D., Risso, I., Rocci, P. -F., Sahlén, M., Sarpa, E., Schneider, A., Sereno, M., Mancini, A. Spurio, Stadel, J., Tanidis, K., Tao, C., Tessore, N., Testera, G., Teyssier, R., Toft, S., Tosi, S., Troja, A., Tucci, M., Valieri, C., Valiviita, J., Vergani, D., Verza, G., Vielzeuf, P.

  3. 3
  4. 4
    دورية أكاديمية
  5. 5
    مؤتمر

    المصدر: 2023 IEEE Conference on Control Technology and Applications (CCTA) Control Technology and Applications (CCTA), 2023 IEEE Conference on. :670-674 Aug, 2023

    Relation: 2023 IEEE Conference on Control Technology and Applications (CCTA)

  6. 6
  7. 7
    تقرير

    المؤلفون: Bocquet, S., Grandis, S., Bleem, L. E., Klein, M., Mohr, J. J., Schrabback, T., Abbott, T. M. C., Ade, P. A. R., Aguena, M., Alarcon, A., Allam, S., Allen, S. W., Alves, O., Amon, A., Anderson, A. J., Annis, J., Ansarinejad, B., Austermann, J. E., Avila, S., Bacon, D., Bayliss, M., Beall, J. A., Bechtol, K., Becker, M. R., Bender, A. N., Benson, B. A., Bernstein, G. M., Bhargava, S., Bianchini, F., Brodwin, M., Brooks, D., Bryant, L., Campos, A., Canning, R. E. A., Carlstrom, J. E., Rosell, A. Carnero, Kind, M. Carrasco, Carretero, J., Castander, F. J., Cawthon, R., Chang, C. L., Chang, C., Chaubal, P., Chen, R., Chiang, H. C., Choi, A., Chou, T-L., Citron, R., Moran, C. Corbett, Cordero, J., Costanzi, M., Crawford, T. M., Crites, A. T., da Costa, L. N., Pereira, M. E. S., Davis, C., Davis, T. M., DeRose, J., Desai, S., de Haan, T., Diehl, H. T., Dobbs, M. A., Dodelson, S., Doux, C., Drlica-Wagner, A., Eckert, K., Elvin-Poole, J., Everett, S., Everett, W., Ferrero, I., Ferté, A., Flores, A. M., Frieman, J., Gallicchio, J., García-Bellido, J., Gatti, M., George, E. M., Giannini, G., Gladders, M. D., Gruen, D., Gruendl, R. A., Gupta, N., Gutierrez, G., Halverson, N. W., Harrison, I., Hartley, W. G., Herner, K., Hinton, S. R., Holder, G. P., Hollowood, D. L., Holzapfel, W. L., Honscheid, K., Hrubes, J. D., Huang, N., Hubmayr, J., Huff, E. M., Huterer, D., Irwin, K. D., James, D. J., Jarvis, M., Khullar, G., Kim, K., Knox, L., Kraft, R., Krause, E., Kuehn, K., Kuropatkin, N., Kéruzoré, F., Lahav, O., Lee, A. T., Leget, P. -F., Li, D., Lin, H., Lowitz, A., MacCrann, N., Mahler, G., Mantz, A., Marshall, J. L., McCullough, J., McDonald, M., McMahon, J. J., Mena-Fernández, J., Menanteau, F., Meyer, S. S., Miquel, R., Montgomery, J., Myles, J., Natoli, T., Navarro-Alsina, A., Nibarger, J. P., Noble, G. I., Novosad, V., Ogando, R. L. C., Omori, Y., Padin, S., Pandey, S., Paschos, P., Patil, S., Pieres, A., Malagón, A. A. Plazas, Porredon, A., Prat, J., Pryke, C., Raveri, M., Reichardt, C. L., Roberson, J., Rollins, R. P., Romero, C., Roodman, A., Ruhl, J. E., Rykoff, E. S., Saliwanchik, B. R., Salvati, L., Sánchez, C., Sanchez, E., Cid, D. Sanchez, Saro, A., Schaffer, K. K., Secco, L. F., Sevilla-Noarbe, I., Sharon, K., Sheldon, E., Shin, T., Sievers, C., Smecher, G., Smith, M., Somboonpanyakul, T., Sommer, M., Stalder, B., Stark, A. A., Stephen, J., Strazzullo, V., Suchyta, E., Tarle, G., To, C., Troxel, M. A., Tucker, C., Tutusaus, I., Varga, T. N., Veach, T., Vieira, J. D., Vikhlinin, A., von der Linden, A., Wang, G., Weaverdyck, N., Weller, J., Whitehorn, N., Wu, W. L. K., Yanny, B., Yefremenko, V., Yin, B., Young, M., Zebrowski, J. A., Zhang, Y., Zohren, H., Zuntz, J.

  8. 8
    مؤتمر

    المصدر: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :5B.2-1-5B.2-8 Apr, 2024

    Relation: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

  9. 9
    دورية أكاديمية
  10. 10