المؤلفون: Wang, L.-T., Xiaoqing Wen, Furukawa, H., Fei-Sheng Hsu, Shyh-Horng Lin, Sen-Wei Tsai, Abdel-Hafez, K.S., Shianling Wu

المصدر: 2004 International Conferce on Test International test conference Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004. International. :916-925 2004

Relation: Proceedings. International Test Conference 2004

المؤلفون: Xiaoqing Wen, Kajihara, S., Miyase, K., Suzuki, T., Saluja, K.K., Laung-Terng Wang, Abdel-Hafez, K.S., Kinoshita, K.

المصدر: 24th IEEE VLSI Test Symposium VLSI Test Symposium VLSI Test Symposium, 2006. Proceedings. 24th IEEE. :6 pp.-65 2006

Relation: Proceedings. 24th IEEE VLSI Test Symposium

المؤلفون: Laung-Terng Wang, Abdel-Hafez, K.S., Xiaoqing Wen, Sheu, B., Shianling Wu, Shyh-Horng Lin, Ming-Tung Chang

المصدر: IEEE International Conference on Test, 2005. International Test Conference Test Conference, 2005. Proceedings. ITC 2005. IEEE International. :8 pp.-953 2005

Relation: 2005 IEEE International Test Conference

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.