يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن '"Abeln, Glenn"', وقت الاستعلام: 0.75s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر

    المصدر: 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium (IRPS), 2010 IEEE International. :1115-1116 May, 2010

    Relation: 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing; Nov2003, Vol. 16 Issue 4, p653-655, 3p

    مصطلحات موضوعية: ION implantation, ION bombardment, SEMICONDUCTORS, ELECTRONICS