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1
المؤلفون: David Barge, Cyrille Le Royer, Anita Peeva, Thomas Feudel, Jens-Uwe Sachse, Heyne Tobias, Judson R. Holt, Aydin Omur Isil, Timothy J. McArdle, Markus Lenski, Christoph Klein, Laks Vanamurthy, Alexis Divay, Carsten Peters, Mulfinger George R, Elliot John Smith, Dirk Utess, Ralf Gerber, Steffen Lehmann, Sören Jansen
المصدر: ECS Transactions. 86:199-206
مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Optoelectronics, Silicon on insulator, business
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2
المؤلفون: Estelle Lauga-Larroze, Alexandre Giry, Ayssar Serhan, Alexis Divay, Jean-Daniel Arnould, Pascal Reynier, Saad Boutayeb, Damien Parat
المصدر: 2019 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S).
مصطلحات موضوعية: Materials science, Electricity generation, business.industry, Amplifier, Q factor, Electrical engineering, dBc, business, Inductor, Electrical impedance, Voltage, Power (physics)
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0ed552416c84d8c16790e5a933df3d52
https://doi.org/10.1109/s3s46989.2019.9320747 -
3
المؤلفون: Klaus Hempel, R. Taylor, Tianbing Chen, Alexis Divay, Tom Herrmann, Alban Zaka, Patrick James Artz, Yogadissen Andee, Steffen Lehmann, L. Pirro, Zhixing Zhao, Carsten Grass, Jan Hoentschel, Ricardo Sousa, Juergen Faul, David Harame, J. Mazurier, Luca Lucci
المصدر: ESSDERC
مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Materials science, Boosting (machine learning), business.industry, Transconductance, Gate resistance, 020206 networking & telecommunications, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, Reduction (complexity), Parasitic capacitance, 0103 physical sciences, MOSFET, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Optoelectronics, Parasitic extraction, business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bff08f1a388899bb2e0e1a09eac0394e
https://doi.org/10.1109/essderc.2019.8901693 -
4
المؤلفون: Niemat Moultif, Eric Joubert, Alexis Divay, Olivier Latry
المساهمون: Groupe de physique des matériaux (GPM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Engineering Failure Analysis
Engineering Failure Analysis, Elsevier, 2017, 81, pp.69-78. ⟨10.1016/j.engfailanal.2017.07.014⟩
Engineering Failure Analysis, 2017, 81, pp.69-78. ⟨10.1016/j.engfailanal.2017.07.014⟩مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Materials science, Spectral signature, business.industry, General Engineering, Algan gan, 02 engineering and technology, High-electron-mobility transistor, Deep-level trap, Edge (geometry), 021001 nanoscience & nanotechnology, 01 natural sciences, Photon emission, Reliability study, 0103 physical sciences, [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci], Optoelectronics, General Materials Science, 0210 nano-technology, business, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
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5
المؤلفون: Cédric Duperrier, Alexis Divay, Farid Temcamani, Olivier Latry, Mohamed Masmoudi
المساهمون: Groupe de physique des matériaux (GPM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU), Equipes Traitement de l'Information et Systèmes (ETIS - UMR 8051), Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Électronique et Commande des Systèmes Laboratoire (ECS-Lab), Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications, DGA- Région Haute Normandie, Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-CY Cergy Paris Université (CY), Divay, Alexis, Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ESREF 2015
ESREF 2015, Oct 2015, Toulouse, Franceمصطلحات موضوعية: High Electron Mobility Transistors (HEMTs), Materials science, [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Trapping, High-electron-mobility transistor, GaN, law.invention, Stress (mechanics), Reliability (semiconductor), law, Electronic engineering, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Electrical and Electronic Engineering, Safety, Risk, Reliability and Quality, business.industry, Transistor, Time constant, Condensed Matter Physics, [SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics, Atomic and Molecular Physics, and Optics, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Characterization (materials science), Optoelectronics, Transient (oscillation), traps, business, slow transients
وصف الملف: application/octetstream
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6
المؤلفون: Alexis Divay, Pascal Dherbécourt, D. Fadil, Olivier Latry
المساهمون: Groupe de physique des matériaux (GPM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Journal of Semiconductors
Journal of Semiconductors, Beijing : Chinese Institute of Electronics ; Bristol : IOP, 2017, 38 (1), ⟨10.1088/1674-4926/38/1/014007⟩
Journal of Semiconductors, 2017, 38 (1), ⟨10.1088/1674-4926/38/1/014007⟩مصطلحات موضوعية: Work (thermodynamics), Materials science, Schottky barrier, 02 engineering and technology, High-electron-mobility transistor, 01 natural sciences, law.invention, symbols.namesake, law, Lambert W function, 0103 physical sciences, Materials Chemistry, Electrical and Electronic Engineering, 010302 applied physics, business.industry, Transistor, Wide-bandgap semiconductor, Schottky diode, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, Thermal conduction, Electronic, Optical and Magnetic Materials, symbols, [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci], Optoelectronics, 0210 nano-technology, business
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7
المؤلفون: Alexis Divay, Cédric Duperrier, Farid Temcamani, Olivier Latry
المساهمون: Groupe de physique des matériaux (GPM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU), ASTRE [Cergy-Pontoise], Equipes Traitement de l'Information et Systèmes (ETIS - UMR 8051), Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire QUARTZ (QUARTZ ), Université Paris 8 Vincennes-Saint-Denis (UP8)-SUPMECA - Institut supérieur de mécanique de Paris-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Ecole Internationale des Sciences du Traitement de l'Information (EISTI), Duperrier, Cédric, Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-CY Cergy Paris Université (CY)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-CY Cergy Paris Université (CY), Université Paris 8 Vincennes-Saint-Denis (UP8)-SUPMECA - Institut supérieur de mécanique de Paris (SUPMECA)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Ecole Internationale des Sciences du Traitement de l'Information (EISTI), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Paris 8 Vincennes-Saint-Denis (UP8)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-SUPMECA - Institut supérieur de mécanique de Paris (SUPMECA)-Ecole Internationale des Sciences du Traitement de l'Information (EISTI)
المصدر: ESREF 2016
ESREF 2016, Sep 2016, Saale, Germany
Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2016, 64, pp.585-588. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.123⟩
Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.585-588. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.123⟩مصطلحات موضوعية: Materials science, Transconductance, [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Algan gan, 02 engineering and technology, High-electron-mobility transistor, 01 natural sciences, Trap (computing), Reliability (semiconductor), 0103 physical sciences, Electrical and Electronic Engineering, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Safety, Risk, Reliability and Quality, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, Hot-carrier injection, 010302 applied physics, business.industry, Electrical engineering, High voltage, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Optoelectronics, 0210 nano-technology, business, Voltage
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8
المؤلفون: Cédric Duperrier, Olivier Latry, Philippe Eudeline, Mohamed Masmoudi, Farid Temcamani, Alexis Divay
المساهمون: Groupe de physique des matériaux (GPM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU), Institut de Mathématiques de Toulouse UMR5219 (IMT), Université Toulouse 1 Capitole (UT1)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UPS), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-PRES Université de Toulouse-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ASTRE [Cergy-Pontoise], Equipes Traitement de l'Information et Systèmes (ETIS), Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine, Laboratoire Quartz (Quartz), Ecole Internationale des Sciences du Traitement de l'Information (EISTI)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-SUPMECA - Institut supérieur de mécanique de Paris, Thales Air Systems, Thales Group [France], Equipes Traitement de l'Information et Systèmes (ETIS - UMR 8051), Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire QUARTZ (QUARTZ ), Université Paris 8 Vincennes-Saint-Denis (UP8)-SUPMECA - Institut supérieur de mécanique de Paris-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Ecole Internationale des Sciences du Traitement de l'Information (EISTI), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-CY Cergy Paris Université (CY)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-CY Cergy Paris Université (CY), Université Paris 8 Vincennes-Saint-Denis (UP8)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-SUPMECA - Institut supérieur de mécanique de Paris (SUPMECA)-Ecole Internationale des Sciences du Traitement de l'Information (EISTI), THALES [France], Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Université Paris 8 Vincennes-Saint-Denis (UP8)-SUPMECA - Institut supérieur de mécanique de Paris (SUPMECA)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Ecole Internationale des Sciences du Traitement de l'Information (EISTI)
المصدر: 2016 21st International Conference on Microwave, Radar and Wireless Communications (MIKON)
2016 21st International Conference on Microwave, Radar and Wireless Communications (MIKON), May 2016, Krakow, France. ⟨10.1109/MIKON.2016.7491990⟩
2016 21st International Conference on Microwave, Radar and Wireless Communications (MIKON), May 2016, Krakow, Poland. pp.1-5مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Ability to work, Materials science, Transistor, 02 engineering and technology, Trapping, 021001 nanoscience & nanotechnology, 01 natural sciences, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Power (physics), law.invention, Trap (computing), [SPI]Engineering Sciences [physics], law, 0103 physical sciences, Extraction (military), Transient (oscillation), Radar, 0210 nano-technology, Algorithm, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::def0d5712a040b794bd5236987de3481
https://doi.org/10.1109/mikon.2016.7491990 -
9
المؤلفون: Ömür Işıl Aydin, Judson Robert Holt, Laks Vanamurthy, Thomas Feudel, Cyrille Le Royer, Tobias Heyne, Ralf Gerber, Markus Lenski, George Robert Mulfinger, Timothy J McArdle, Sören Jansen, Dirk Utess, Christoph Klein, Anita Peeva, David Barge, Alexis Divay, Steffen Lehmann, Elliot Smith, Carsten Peters, Jens-Uwe Sachse
المصدر: ECS Meeting Abstracts. :1072-1072
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المؤلفون: Olivier Latry, Alexis Divay, Cédric Duperrier, Farid Temcamani
المساهمون: Groupe de physique des matériaux (GPM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU), ASTRE [Cergy-Pontoise], Equipes Traitement de l'Information et Systèmes (ETIS - UMR 8051), Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire QUARTZ (QUARTZ ), Université Paris 8 Vincennes-Saint-Denis (UP8)-SUPMECA - Institut supérieur de mécanique de Paris-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Ecole Internationale des Sciences du Traitement de l'Information (EISTI), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-CY Cergy Paris Université (CY)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-CY Cergy Paris Université (CY), Université Paris 8 Vincennes-Saint-Denis (UP8)-Ecole Nationale Supérieure de l'Electronique et de ses Applications (ENSEA)-SUPMECA - Institut supérieur de mécanique de Paris (SUPMECA)-Ecole Internationale des Sciences du Traitement de l'Information (EISTI), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Journal of Semiconductors
Journal of Semiconductors, Beijing : Chinese Institute of Electronics ; Bristol : IOP, 2016, 37 (1), ⟨10.1088/1674-4926/37/1/014001⟩
Journal of Semiconductors, 2016, 37 (1), ⟨10.1088/1674-4926/37/1/014001⟩مصطلحات موضوعية: Materials science, Schottky barrier, 02 engineering and technology, High-electron-mobility transistor, 01 natural sciences, law.invention, Reliability (semiconductor), law, 0103 physical sciences, Materials Chemistry, Electrical and Electronic Engineering, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, 010302 applied physics, business.industry, Transistor, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Ageing, Degradation (geology), Optoelectronics, 0210 nano-technology, business, Early phase, AND gate
