-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Huy-Binh Do, Quang-Ho Luc, Phuong V. Pham, Anh-Vu Phan-Gia, Thanh-Son Nguyen, Hoang-Minh Le, Maria Merlyne De Souza
المصدر: Micromachines, Vol 14, Iss 8, p 1606 (2023)
مصطلحات موضوعية: defects in HfO2, interface traps, border traps, acceptor-like and donor-like traps, Hf 4f peaks, valence band maximum, Mechanical engineering and machinery, TJ1-1570
وصف الملف: electronic resource
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Huy-Binh Do, Anh-Vu Phan-Gia, Van Quy Nguyen, Maria Merlyne De Souza
المصدر: AIP Advances, Vol 12, Iss 6, Pp 065024-065024-6 (2022)
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2158-3226