-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Khaled Kaja, Ammar Assoum, Peter De Wolf, François Piquemal, Antonio Nehmee, Adnan Naja, Taha Beyrouthy, Mustapha Jouiad
المصدر: Advanced Materials Interfaces, Vol 11, Iss 2, Pp n/a-n/a (2024)
مصطلحات موضوعية: AFM, data clustering, dielectric constant, KPFM, nano tomography, peak force tapping, Physics, QC1-999, Technology
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2196-7350