يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن '"Aryan, N. Pour"', وقت الاستعلام: 0.84s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    From an analytic NBTI device model to reliability assessment of complex digital circuits

    المؤلفون: Aryan, N. Pour, Listl, A., Heiss, L., Yilmaz, C., Georgakos, G., Schmitt-Landsiedel, D.

    المصدر: 2014 IEEE 20th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2014 IEEE 20th International. :19-24 Jul, 2014

    Relation: 2014 IEEE 20th International On-Line Testing Symposium (IOLTS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء