-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Barnes, A., Heliere, F., Villar, P., Stuhldreier, H., Beaurain, C., Bouw, D., Grunwald, M., Moess, E., Muck, T., Schildbach, C., Ayles, T., Kramer, A., Bildner, B.
المصدر: In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:378-384