المؤلفون: Saquetti, M., Canofre, R., Lorenzon, A.F., Rossi, F.D., Azambuja, J.R., Cordeiro, W., Luizelli, M.C.

المصدر: IEEE Communications Letters IEEE Commun. Lett. Communications Letters, IEEE. 25(11):3551-3555 Nov, 2021

المؤلفون: Goncalves, M.M., Lamb, I.P., Rech, P., Brum, R.M., Azambuja, J.R.

المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 67(7):1573-1580 Jul, 2020

المؤلفون: Saquetti, M., Bueno, G., Cordeiro, W., Azambuja, J.R.

المصدر: IEEE Communications Letters IEEE Commun. Lett. Communications Letters, IEEE. 24(1):146-149 Jan, 2020

المؤلفون: Goncalves, M., Fernandes, F., Lamb, I., Rech, P., Azambuja, J.R.

المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 66(7):1449-1456 Jul, 2019

المؤلفون: Nedel, W., Lima Kastensmidt, F., Azambuja, J.R.

المصدر: 2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS) Test Symposium (LATS), 2016 17th Latin-American. :93-98 Apr, 2016

Relation: 2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS)

المؤلفون: Gonçalves, M.M., Condia, J.E. Rodriguez, Reorda, M. Sonza, Sterpone, L., Azambuja, J.R.

المصدر: In Microelectronics Reliability November 2020 114

المؤلفون: Cardoso, D.M., Tonetto, R., Brandalero, M., Nazar, G., Beck, A.C., Azambuja, J.R.

المصدر: In Microelectronics Reliability September 2019 100-101

المؤلفون: Benevenuti, Fabio, Goncalves, Marcio, Pereira Jr, Evaldo Carlos, Vaz, Rafael, Gonçalez, O.L., Possamai Bastos, Rodrigo, Létiche, Manon, Kastensmidt, Fernanda, Azambuja, J.R.

المساهمون: BEN TITO, Laurence

مصطلحات موضوعية: [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______166::c27ff084d33f7e03320361122eb824d3
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03688778

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.