-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Bernasconi, P., Buhl, L., Neilson, D. T., Sinsky, J. H., Basavanhally, N., Bolle, C., Cappuzzo, M. A., Chen, E. Y., Earnshaw, M., Farah, R., Frahm, R., Gasparyan, A., Gill, D., Gomez, L., Keller, R., Klemens, F., Kolodner, P., Low, Y., Papazian, R., Pardo, F., Ramsey, D., Rasras, M. S., Salamon, T., Simon, E. M., Sutter, E., Achouche, M., Barbet, S., Blanche, F., Brillouet, F., Chimot, N., Decobert, J., Debregeas, H., Drisse, O., Franchin, F., Gariah, H., Gentner, J.-L., Glastre, G., Lagay, N., Lanteri, D., Lelarge, F., Mallecot, F., Pommereau, F., Provost, J.-G., Azzini, G., Fratta, L., Galli, P., Guja, V., Jovane, S., Palmisano, D., Perego, F., Peruta, R.
المصدر: IEEE Photonics Technology Letters IEEE Photon. Technol. Lett. Photonics Technology Letters, IEEE. 24(18):1657-1659 Sep, 2012
-
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
-
6
-
7
-
8
-
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية
المؤلفون: Serra, L., Azzini, G. A., Montangero, P.
المصدر: Microelectronics Reliability; 1996, Vol. 36 Issue: 7 p1095-1106, 12p