-
1
المؤلفون: Gary B. Bronner, B. Haukness, C. Chevallier, S. Bowyer, R. Meyer, Huaqiang Wu, J. Wu, M. Calarrudo, Y. Bai, Deepak Chandra Sekar, U. Raghuram, Franz Kreupl, P. Swab, He Qian, N. Mishra, S. Nguyen, Mark D. Kellam, B. Bateman
المصدر: 2014 IEEE International Electron Devices Meeting.
مصطلحات موضوعية: Engineering, business.industry, Capacitive sensing, Electrical engineering, chemistry.chemical_element, Chip, Power (physics), Resistive random-access memory, Reduction (complexity), chemistry, Current (fluid), business, Tin, Electrical conductor
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::71d239a1c8f0cbcde25adabbcd88f99f
https://doi.org/10.1109/iedm.2014.7047125 -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.