-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4
المؤلفون: D.P. Chan, B. Loughery, Michael M. Dominello, Jay Burmeister
المصدر: International Journal of Radiation Oncology*Biology*Physics. 105:E689-E690
مصطلحات موضوعية: Cancer Research, Radiation, Oncology, business.industry, Medicine, Radiology, Nuclear Medicine and imaging, Radiochromic film, Irradiation, business, Nuclear medicine
-
5
المؤلفون: B. Loughery, G. Baran, K.M. Masi, Jay Burmeister, A. Hammoud, H. Jaenisch, Todd Bossenberger, Michael M. Dominello, J. Kamp
المصدر: International Journal of Radiation Oncology*Biology*Physics. 102:e534-e535
مصطلحات موضوعية: Constraint (information theory), Cancer Research, Radiation, Oncology, Operations research, business.industry, Plan evaluation, Medicine, Radiology, Nuclear Medicine and imaging, business, Radiation treatment planning, Automation
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9
المؤلفون: Jay Burmeister, B Loughery
المصدر: Medical Physics. 43:3745-3745
مصطلحات موضوعية: Medical education, medicine.medical_specialty, business.industry, Physics education, General Medicine, Successful programs, 030218 nuclear medicine & medical imaging, Clinical Practice, Medical physicist, 03 medical and health sciences, 0302 clinical medicine, 030220 oncology & carcinogenesis, Degree program, Medicine, Medical physics, Duration (project management), business, Accreditation
-
10
المؤلفون: B Loughery, Michael Snyder
المصدر: Medical Physics. 42:3450-3450
مصطلحات موضوعية: Scanner, Materials science, business.industry, Bowing, Isocenter, General Medicine, Brass, Optics, visual_art, Electromagnetic shielding, visual_art.visual_art_medium, Profile analysis, business, Image resolution, Leakage (electronics)