-
1مؤتمر
المصدر: 2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report Integrated Reliability Workshop Final Report, 2007. IRW 2007. IEEE International. :135-138 Oct, 2007
Relation: 2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Dilillo, Luigi, Girard, Patrick, Pravossoudovitch, Serge, Virazel, Arnaud, Bastian, Magali
المصدر: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. October 2007 23(5):435-444
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.