يعرض 1 - 10 نتائج من 41 نتيجة بحث عن '"Beenker, F."', وقت الاستعلام: 0.98s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Minimizing test time by exploiting parallelism in macro test

    المؤلفون: Bouwmeester, H., Oostdijk, S., Bouwmann, F., Stans, R., Thijssen, L., Beenker, F.

    المصدر: Proceedings of IEEE International Test Conference - (ITC) International test conference Test Conference, 1993. Proceedings., International. :451-460 1993

    Relation: Proceedings of IEEE International Test Conference - (ITC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    A realistic fault model and test algorithms for static random access memories

    المؤلفون: Dekker, R., Beenker, F., Thijssen, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 9(6):567-572 Jun, 1990

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Implementing macro test in silicon compiler design

    المؤلفون: Beenker, F., Dekker, R., Stans, R., Van der Star, M.

    المصدر: IEEE Design & Test of Computers IEEE Des. Test. Comput. Design & Test of Computers, IEEE. 7(2):41-51 Apr, 1990

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Macro Testability; The Results of Production Device Applications

    المؤلفون: Bouwman, F., Oostdijk, S., Stans, R., Bennetts, B., Beenker, F.

    المصدر: Proceedings International Test Conference 1992 Test Conference, 1992. Proceedings., International. :232 1992

    Relation: Proceedings International Test Conference 1992

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    كتاب إلكتروني
    Test Control Block Concepts

    المؤلفون: Beenker, F. P. M.Aff4, Bennetts, R. G.Aff5, Thijssen, A. P.Aff6

    المساهمون: Beenker, F. P. M.Aff1, Bennetts, R. G.Aff2, Thijssen, A. P.Aff3

    المصدر: Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach. 3:107-138

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    كتاب إلكتروني
    Macro Test: A Framework for Testable IC Design

    المؤلفون: Beenker, F. P. M.Aff4, Bennetts, R. G.Aff5, Thijssen, A. P.Aff6

    المساهمون: Beenker, F. P. M.Aff1, Bennetts, R. G.Aff2, Thijssen, A. P.Aff3

    المصدر: Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach. 3:19-40

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    كتاب إلكتروني
    Examples of Leaf-Macro Test Techniques

    المؤلفون: Beenker, F. P. M.Aff4, Bennetts, R. G.Aff5, Thijssen, A. P.Aff6

    المساهمون: Beenker, F. P. M.Aff1, Bennetts, R. G.Aff2, Thijssen, A. P.Aff3

    المصدر: Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach. 3:41-79

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    كتاب إلكتروني
    Timing Aspects of CMOS VLSI Circuits

    المؤلفون: Beenker, F. P. M.Aff4, Bennetts, R. G.Aff5, Thijssen, A. P.Aff6

    المساهمون: Beenker, F. P. M.Aff1, Bennetts, R. G.Aff2, Thijssen, A. P.Aff3

    المصدر: Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach. 3:171-191

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    كتاب إلكتروني
    Exploiting Parallelism in Leaf-Macro Access

    المؤلفون: Beenker, F. P. M.Aff4, Bennetts, R. G.Aff5, Thijssen, A. P.Aff6

    المساهمون: Beenker, F. P. M.Aff1, Bennetts, R. G.Aff2, Thijssen, A. P.Aff3

    المصدر: Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach. 3:139-169

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    كتاب إلكتروني
    Introduction

    المؤلفون: Beenker, F. P. M.Aff4, Bennetts, R. G.Aff5, Thijssen, A. P.Aff6

    المساهمون: Beenker, F. P. M.Aff1, Bennetts, R. G.Aff2, Thijssen, A. P.Aff3

    المصدر: Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach. 3:1-8

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء