المؤلفون: de Oliveira, A.B., Tambara, L.A., Benevenuti, F., Benites, L.A.C., Added, N., Aguiar, V.A.P., Medina, N.H., Silveira, M.A.G., Kastensmidt, F.L.

المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 67(7):1503-1510 Jul, 2020

المؤلفون: Benites, L.A.C., Benevenuti, F., De Oliveira, A.B., Kastensmidt, F.L., Added, N., Aguiar, V.A.P., Medina, N.H., Guazzelli, M.A.

المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 66(7):1433-1440 Jul, 2019

المؤلفون: Garay Trindade, M., Benevenuti, F., Letiche, M., Beaucour, J., Kastensmidt, F., Possamai Bastos, R.

المصدر: In Microelectronics Reliability January 2021 116

المؤلفون: Oliveira, A., Benevenuti, F., Benites, L., Rodrigues, G., Kastensmidt, F., Added, N., Aguiar, V., Medina, N., Guazzelli, M., Tambara, L.

المصدر: In Microelectronics Reliability September 2019 100-101

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Benevenuti, F., Kastensmidt, F., Oliveira, A., Added, N., Aguiar, V., Medina, N., Guazzelli, M.

المصدر: Journal of Integrated Circuits & Systems; 2021, Vol. 16 Issue 2, p1-12, 12p

المؤلفون: Benevenuti, F., Gobatto, L., Bastos, R.P., Azambuja, J.R., Kastensmidt, F.L.

المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. PP(99):1-1

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.