يعرض 1 - 10 نتائج من 19 نتيجة بحث عن '"Bernt, Marvin L"', وقت الاستعلام: 0.84s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Glass Panel Process Integrated Low Stress Organic Dielectric RDL Structure

    المؤلفون: Hsiung, Chien-Kang, Wang, Terry, Wozny, Sarah, Bernt, Marvin L, Chen, Kuan-Nang

    المصدر: 2024 IEEE 74th Electronic Components and Technology Conference (ECTC) ECTC Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2024 IEEE 74th. :1896-1899 May, 2024

    Relation: 2024 IEEE 74th Electronic Components and Technology Conference (ECTC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Evaluation on multiple layer PBO-based Cu RDL process for Fan-Out Wafer Level Packaging (FOWLP)

    المؤلفون: Boon, Soh Siew, Chui, K. J., David Ho, S. W., Sek, S. A., Yu, Mingbin, Lianto, Prayudi, Gu, Yu, See, Guan Huei, Bernt, Marvin L.

    المصدر: 2016 IEEE 18th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2016 IEEE 18th. :662-665 Nov, 2016

    Relation: 2016 IEEE 18th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Multiple particle technique for determination of differential scattering cross section of very small surface bound particles.

    المؤلفون: Stover, John C., Bernt, Marvin L.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1995, Issue 1, p108-112, 5p

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    TIS uniformity maps of wafers, disks, and other samples.

    المؤلفون: Stover, John C., Bernt, Marvin L., Schiff, Tod F.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1995, Issue 1, p21-25, 5p

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    Roughness measurement of dielectrics with light scatter.

    المؤلفون: Bernt, Marvin L., Stover, John C.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1995, Issue 1, p36-44, 9p

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Measurement and analysis of scatter from silicon wafers.

    المؤلفون: Stover, John C., Bernt, Marvin L., Church, Eugene L., Takacs, Peter Z.

    المصدر: Proceedings of SPIE; 11/ 1/1994, Issue 1, p182-191, 10p

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    Measurement and analysis of scatter from rough surfaces.

    المؤلفون: Stover, John C., Bernt, Marvin L., Church, Eugene L.

    المصدر: Proceedings of SPIE; 11/ 1/1994, Issue 1, p40-49, 10p

    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Near specular measurements of integrated scatter.

    المؤلفون: Bender, James A., Henning, Timothy D., Bernt, Marvin L.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1993, Issue 1, p121-126, 6p

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Very near specular measurement via incident angle scaling.

    المؤلفون: Stover, John C., Bernt, Marvin L.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1993, Issue 1, p115-120, 6p

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Wavelength scaling investigation of several materials.

    المؤلفون: Stover, John C., Bernt, Marvin L., Egert, Charles M.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1993, Issue 1, p256-266, 11p

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء