يعرض 1 - 10 نتائج من 139 نتيجة بحث عن '"Blanton, R. D."', وقت الاستعلام: 1.25s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Faulty Function Extraction for Defective Circuits

    المؤلفون: Nigh, Chris, Purdy, Ruben, Li, Wei, Mitra, Subhasish, Blanton, R. D.

    المصدر: 2024 IEEE European Test Symposium (ETS) European Test Symposium (ETS), 2024 IEEE. :1-6 May, 2024

    Relation: 2024 IEEE European Test Symposium (ETS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Global Floorplanning via Semidefinite Programming

    المؤلفون: Li, Wei, Wang, Fangzhou, Moura, Jose M. F., Blanton, R. D.

    المصدر: 2023 60th ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) Design Automation Conference (DAC), 2023 60th ACM/IEEE. :1-6 Jul, 2023

    Relation: 2023 60th ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Secuirty Metrics for Logic Circuits

    المؤلفون: Purdy, Ruben, Duvalsaint, Danielle, Blanton, R. D. Shawn

    المصدر: 2022 IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST) Hardware Oriented Security and Trust (HOST), 2022 IEEE International Symposium on. :53-56 Jun, 2022

    Relation: 2022 IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST)

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Large-Scale Logic-Locking Attacks via Simulation

    المؤلفون: Purdy, Ruben, Blanton, R. D. Shawn

    المصدر: 2022 23rd International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) Quality Electronic Design (ISQED), 2022 23rd International Symposium on. :1-6 Apr, 2022

    Relation: 2022 23rd International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    Characterizing Corruptibility of Logic Locks using ATPG

    المؤلفون: Duvalsaint, Danielle, Blanton, R. D. Shawn

    المصدر: 2021 IEEE International Test Conference (ITC) ITC Test Conference (ITC), 2021 IEEE International. :213-222 Oct, 2021

    Relation: 2021 IEEE International Test Conference (ITC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    AAA: Automated, On-ATE AI Debug of Scan Chain Failures

    المؤلفون: Nigh, Chris, Bhargava, Gaurav, Blanton, R. D.

    المصدر: 2021 IEEE International Test Conference (ITC) ITC Test Conference (ITC), 2021 IEEE International. :314-318 Oct, 2021

    Relation: 2021 IEEE International Test Conference (ITC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    LAIDAR: Learning for Accuracy and Ideal Diagnostic Resolution

    المؤلفون: Huang, Qicheng, Fang, Chenlei, Shawn Blanton, R. D.

    المصدر: 2020 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2020 IEEE International. :1-10 Nov, 2020

    Relation: 2020 IEEE International Test Conference (ITC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Knowledge Transfer for Diagnosis Outcome Preview with Limited Data

    المؤلفون: Huang, Qicheng, Fang, Chenlei, Blanton, R. D. Shawn

    المصدر: 2020 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2020 IEEE International. :1-9 Nov, 2020

    Relation: 2020 IEEE International Test Conference (ITC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    High Defect-Density Yield Learning using Three-Dimensional Logic Test Chips

    المؤلفون: Liu, Zeye, Shawn Blanton, R. D.

    المصدر: 2020 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2020 IEEE International. :1-10 Nov, 2020

    Relation: 2020 IEEE International Test Conference (ITC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Diagnosis Outcome Prediction on Limited Data via Transferred Random Forest

    المؤلفون: Huang, Qicheng, Fang, Chenlei, Blanton, R. D. Shawn

    المصدر: 2020 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2020 IEEE International. :65-70 Sep, 2020

    Relation: 2020 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia)

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء