يعرض 1 - 10 نتائج من 35 نتيجة بحث عن '"Bodeau, M."', وقت الاستعلام: 1.38s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Bodeau, M., Altshuler, N.

    المصدر: IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 51(9):2501-2507 Sep, 2023

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Bodeau, M., Altshuler, N.

    المصدر: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility IEEE Trans. Electromagn. Compat. Electromagnetic Compatibility, IEEE Transactions on. 64(6):1829-1846 Dec, 2022

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Bodeau, M., Altshuler, N., Meloy, R.

    المصدر: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility IEEE Trans. Electromagn. Compat. Electromagnetic Compatibility, IEEE Transactions on. 64(6):1871-1882 Dec, 2022

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 51(9):2446-2446 Sep, 2023

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Bodeau, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility IEEE Trans. Electromagn. Compat. Electromagnetic Compatibility, IEEE Transactions on. 61(1):90-99 Feb, 2019

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 47(8):3629-3630 Aug, 2019

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Bodeau, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 40(2):192-200 Feb, 2012

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Bodeau, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 40(2):201-208 Feb, 2012

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Bodeau, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 43(9):2961-2974 Sep, 2015

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Bodeau, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 43(9):3075-3085 Sep, 2015