-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Bonet, F., Avino-Salvado, O., Vellvehi, M., Jorda, X., Godignon, P., Perpina, X.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 43(6):938-941 Jun, 2022
-
2مؤتمر
المؤلفون: Avino, O., Bonet, F., Vellvehi, M., Jorda, X., Godignon, P., Perpina, X., Giorgio, G., Bochaca, E.
المصدر: 2020 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2020 32nd International Symposium on. :66-69 Sep, 2020
Relation: 2020 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD)
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Doblas-Miranda, E., Martínez-Vilalta, J., Lloret, F., Álvarez, A., Ávila, A., Bonet, F. J., Brotons, L., Castro, J., Yuste, J. Curiel, Díaz, M., Ferrandis, P., García-Hurtado, E., Iriondo, J. M., Keenan, T. F., Latron, J., Llusià, J., Loepfe, L., Mayol, M., Moré, G., Moya, D., Peñuelas, J., Pons, X., Poyatos, R., Sardans, J., Sus, O., Vallejo, V. R., Vayreda, J., Retana, J.
المصدر: Global Ecology and Biogeography, 2015 Jan 01. 24(1/2), 25-43.
URL الوصول: http://www.jstor.org/stable/43871467
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
المؤلفون: Toro R, Pérez-Serra A, Mangas A, Campuzano O, Sarquella-Brugada G, Quezada-Feijoo M, Ramos M, Alcalá M, Carrera E, García-Padilla C, Franco D, Bonet F
المصدر: INTERNATIONAL JOURNAL OF MOLECULAR SCIENCES
r-FSJD. Repositorio Institucional de Producción Científica de la Fundació Sant Joan de Déu
instnameمصطلحات موضوعية: reactive oxygen species, miR-16-5p, endoplasmic reticulum stress, ischemic dilated cardiomyopathy, ATF6
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Avino-Salvado, O., Buttay, C., Bonet, F., Raynaud, C., Bevilacqua, P., Rebollo, J., Morel, H., Perpina, X.
المصدر: IEEE Transactions on Industrial Electronics IEEE Trans. Ind. Electron. Industrial Electronics, IEEE Transactions on. PP(99):1-10