يعرض 1 - 9 نتائج من 9 نتيجة بحث عن '"Borot, Bertrand"', وقت الاستعلام: 0.87s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Test structures for interdie variations monitoring in presence of statistical random variability

    المؤلفون: Castaneda, Giancarlo, Juge, Andre, Ghibaudo, Gerard, Golanski, Dominique, Hoguet, David, Portal, Jean-Michel, Borot, Bertrand

    المصدر: 2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2012 IEEE International Conference on. :36-42 Mar, 2012

    Relation: 2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    A 40nm CMOS 260kb SRAM-bitcell on-chip failure monitoring test scribe with integer-to-current converter

    المؤلفون: Lhomme, Brice, Carminati, Yann, Borot, Bertrand, Callen, Olivier, Burdeau, Thierry, Clerc, Sylvain

    المصدر: 2010 Proceedings of ESSCIRC ESSCIRC, 2010 Proceedings of the. :362-365 Sep, 2010

    Relation: ESSCIRC 2010 - 36th European Solid State Circuits Conference

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Predictive Delay Evaluation on Emerging CMOS Technologies: A Simulation Framework

    المؤلفون: Sellier, Manuel, Portal, Jean-Michel, Borot, Bertrand, Colquhoun, Steve, Ferrant, Richard, Boeuf, Frédéric, Farcy, Alexis

    المصدر: 9th International Symposium on Quality Electronic Design (isqed 2008) Quality Electronic Design, 2008. ISQED 2008. 9th International Symposium on. :492-497 Mar, 2008

    Relation: 2008 9th International Symposium of Quality of Electronic Design (ISQED)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    A New Combined Methodology for Write-Margin Extraction of Advanced SRAM

    المؤلفون: Gierczynski, Nicolas, Borot, Bertrand, Planes, Nicolas, Brut, Hugues

    المصدر: 2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures, 2007. ICMTS '07. IEEE International Conference on. :97-100 Mar, 2007

    Relation: 2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    High density SRAM robust to radiation-induced Soft Errors in 90nm CMOS technology

    المؤلفون: Roche, Philippe, Francois Jacquet, Gasiot, Gilles, Caillat, Christian, Borot, Bertrand, Schoellkopf, Jean-Pierre

    URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bf74323ae365e444d90fad62858eee78

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    First look at across-chip performance and process noise using non-contact performance-based metrology.

    المؤلفون: Babazadeh, Majid, Borot, Bertrand, Doedel, Wim, Estabil, José, Galvier, Jean, Johnson, Gloria, Pakdaman, Nader, Steinbrueck, Gary, Vickers, James

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2006, Issue 1, p615502-615502-8, 8p

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء