-
1مؤتمر
المؤلفون: Noury, N., Quach, K-A, Berenguer, M., Teyssier, H., Bouzid, M-J, Goldstein, L., Giordani, M.
المصدر: 2011 Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society Engineering in Medicine and Biology Society, EMBC, 2011 Annual International Conference of the IEEE. :1769-1772 Aug, 2011
Relation: 2011 33rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC)
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Noury , N., Berenguer, M., Teyssier, H., Bouzid , M-.J., Giordani, M.
المصدر: IEEE Transactions on Information Technology in Biomedicine IEEE Trans. Inform. Technol. Biomed. Information Technology in Biomedicine, IEEE Transactions on. 15(5):758-766 Sep, 2011
-
3مؤتمر
المؤلفون: Noury, N., Kim Anh Quach, Berenguer, M., Teyssier, H., Bouzid, M.-J., Goldstein, L., Giordani, M.
المصدر: 2010 12th IEEE International Conference on E-Health Networking Applications & Services (Healthcom); 2010, p1-6, 6p
-
4مؤتمر
المؤلفون: Noury, N., Quach, K.A., Berenguer, M., Teyssier, H., Bouzid, M.-J., Goldstein, L., Giordani, M.
المصدر: 11th International Conference on E-Health Networking, Applications & Services, 2009. Healthcom 2009; 2009, p9-13, 5p
-
5دورية
المؤلفون: Palleau, J., Jourdain, D., Oberlin, J. C., Alaimo, M., Argoud, G., Aubert, D., Beudon, M., Bouzid, M. J., Laviale, D., Templier, F., Torres, J., Palleau, J., Jourdain, D., Oberlin, J. C., Alaimo, M., Argoud, G., Aubert, D., Beudon, M., Bouzid, M. J., Laviale, D., Templier, F., Torres, J.
المصدر: Journal de Physique III; April 1993, Vol. 3 Issue: 4 p793-804, 12p
-
6دورية
المؤلفون: Giroult-Matlakowski, G., Bousseta, H., Le Tron, B., Dutartre, D., Warren, P., Bouzid, M. J., Nouailhat, A., Ashburn, P., Chantre, A., Giroult-Matlakowski, G., Bousseta, H., Le Tron, B., Dutartre, D., Warren, P., Bouzid, M. J., Nouailhat, A., Ashburn, P., Chantre, A.
المصدر: Journal de Physique IV - Proceedings; September 1994, Vol. 4 Issue: 1 pC6-111-C6-115, 1116110p
-
7دورية
المؤلفون: Mourrain, C., Tourniol, C., Bouzid, M. J.
المصدر: Microelectronics Reliability; 1998, Vol. 38 Issue: 6 p1115-1120, 6p
-
8مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.