-
1مؤتمر
المؤلفون: Ebiko, Y., Yamagishi, H., Tatani, K., Iwamoto, H., Moriyama, Y., Hagiwara, Y., Maeda, S., Murase, T., Suwa, T., Arai, H., Isogai, Y., Hida, S., Kameda, S., Terada, T., Koiso, K., Brady, F. T., Han, S., Basavalingappa, A., Michiel, T., Ueno, T.
المصدر: 2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2020 IEEE International. :33.1.1-33.1.4 Dec, 2020
Relation: 2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Brady, F. T., Li, S. S., Krull, W. A.
المصدر: Journal of Electronic Materials. May 1989 18(3):385-389
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Brady, F. T., Li, S. S., Burk, D. E., Krull, W. A.
المصدر: Applied Physics Letters; 3/14/1988, Vol. 52 Issue 11, p886, 3p
مصطلحات موضوعية: OXIDES, METAL oxide semiconductors