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2
المؤلفون: N. Chery, M. Zhang, R. Monflier, N. Mallet, G. Seine, V. Paillard, J. M. Poumirol, G. Larrieu, A. S. Royet, S. Kerdilès, P. Acosta-Alba, M. Perego, C. Bonafos, F. Cristiano
المساهمون: Nano-Optique et Nanomatériaux pour l'optique (CEMES-NeO), Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales (CEMES), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT), Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Service Instrumentation Conception Caractérisation (LAAS-I2C), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), Équipe Matériaux et Procédés pour la Nanoélectronique (LAAS-MPN), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Institute for Microelectronics and Microsystems (IMM ), National Research Council of Italy | Consiglio Nazionale delle Ricerche (CNR), ANR-18-CE09-0034,DONNA,Dopage à l'échelle nano(2018), European Project: 871813,H2020-EU.2.1.1. - INDUSTRIAL LEADERSHIP - Leadership in enabling and industrial technologies - Information and Communication Technologies (ICT) ,MUNDFAB (2020)
المصدر: Journal of Applied Physics
Journal of Applied Physics, 2022, 131 (6), pp.065301مصطلحات موضوعية: [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci], General Physics and Astronomy
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المؤلفون: I.N. Antonov, A.I. Belov, C. Bonafos, S. Brivio, Laurent Cario, M. Carrada, Brigitte Caussat, Georgios Ch. Sirakoulis, Dennis Valbjørn Christensen, Elena Cianci, Benoit Corraze, V.A. Demin, P. Dimitrakis, A.V. Emelyanov, Manuel Escudero, Vincenzo Esposito, D.O. Filatov, Georgios Giannopoulos, O.N. Gorshkov, F. Gourbilleau, E.G. Gryaznov, D.V. Guseinov, Michael Hoffmann, Etienne Janod, Andreas Kaidatzis, L. Khomenkhova, D.S. Korolev, M.N. Koryazhkina, Yang Li, Qi Liu, Benjamin Max, A.N. Mikhaylov, Thomas Mikolajick, Halid Mulaosmanovic, Dimitris Niarchos, K.E. Nikiruy, P. Normand, E.V. Okulich, V.I. Okulich, D.A. Pavlov, Nini Pryds, Krishnaswamy Ramkumar, Antonio Rubio, V.V. Rylkov, Simone Sanna, S. Schamm-Chardon, Uwe Schroeder, M.E. Shenina, R.A. Shuisky, K.V. Sidorenko, A. Slaoui, Stefan Slesazeck, B. Spagnolo, Sabina Spiga, E. Talbot, Stefan Tappertzhofen, D.I. Tetelbaum, S.V. Tikhov, Julien Tranchant, Constantin Vahlas, E. Vianello, Ioannis Vourkas, Xiaolong Zhao
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c6c5caf76373ac55685791efd20e3e43
https://doi.org/10.1016/b978-0-12-814629-3.09989-x -
4دورية أكاديمية
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5
المؤلفون: A, Scarangella, M, Soumbo, C, Villeneuve-Faure, A, Mlayah, C, Bonafos, M-C, Monje, C, Roques, K, Makasheva
المصدر: Nanotechnology. 29(11)
مصطلحات موضوعية: Luminescent Proteins, Refractometry, Absorption, Physicochemical, Light, Optical Imaging, Spectroscopy, Fourier Transform Infrared, Wettability, Animals, Cattle, Serum Albumin, Bovine, Adsorption, Silicon Dioxide
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6دورية أكاديمية
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7دورية أكاديمية
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8
المؤلفون: J. F. Damlencourt, C. Bonafos, A. Diab, Sorin Cristoloveanu, I. Ionica, Jung-Hee Lee, E. Saracco
المصدر: Journal of The Electrochemical Society. 159:H467-H472
مصطلحات موضوعية: Materials science, Electrical transport, Renewable Energy, Sustainability and the Environment, business.industry, Materials Chemistry, Electrochemistry, Nanowire, Optoelectronics, Condensed Matter Physics, business, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials
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المؤلفون: A. B. Speshilova, S. E. Aleksandrov, R. Laiho, A. N. Titkov, A. Claverie, S. Yu. Larkin, C. Bonafos, M. S. Dunaevskii
المصدر: Technical Physics Letters. 33:889-892
مصطلحات موضوعية: Kelvin probe force microscope, Materials science, Physics and Astronomy (miscellaneous), business.industry, Annealing (metallurgy), Electrostatic force microscope, Oxide, chemistry.chemical_element, Oxygen, Nanocrystalline material, Ion, chemistry.chemical_compound, Nanolithography, chemistry, Optoelectronics, Atomic physics, business
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المؤلفون: B. Despax, C. Bonafos, M. Bedjaoui, M. Caumont
المصدر: The European Physical Journal Applied Physics. 34:147-150
مصطلحات موضوعية: Suboxide, Materials science, Silicon, Analytical chemistry, chemistry.chemical_element, Condensed Matter Physics, Silane, Electronic, Optical and Magnetic Materials, symbols.namesake, chemistry.chemical_compound, chemistry, Nanocrystal, Plasma-enhanced chemical vapor deposition, symbols, Thin film, Raman spectroscopy, Instrumentation, Raman scattering
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::467905294def70881dd8d7ca5cf1bacf
https://doi.org/10.1051/epjap:2006050