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1دورية أكاديمية
المؤلفون: R. Alcala, M. Materano, P. D. Lomenzo, L. Grenouillet, T. Francois, J. Coignus, N. Vaxelaire, C. Carabasse, S. Chevalliez, F. Andrieu, T. Mikolajick, U. Schroeder
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 10, Pp 907-912 (2022)
مصطلحات موضوعية: BEOL, ferroelectric, HfO₂, reliability, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
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2
المؤلفون: T. Francois, J. Coignus, A. Makosiej, B. Giraud, C. Carabasse, J. Barbot, S. Martin, N. Castellani, T. Magis, H. Grampeix, S. Van Duijn, C. Mounet, P. Chiquet, U. Schroeder, S. Slesazeck, T. Mikolajick, E. Nowak, M. Bocquet, N. Barrett, F. Andrieu, L. Grenouillet
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices. 69:2108-2114
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3ddb7a9963ca4b47a8c518521edbaeab
https://doi.org/10.1109/ted.2021.3138360
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3
المؤلفون: L. Grenouillet, J. Barbot, J. Laguerre, S. Martin, C. Carabasse, M. Louro, M. Bedjaoui, S. Minoret, S. Kerdilès, C. Boixaderas, T. Magis, C. Jahan, F. Andrieu, J. Coignus
المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9e8e0a386fa50f81c95c4bc7797351fd
https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10118099 -
4دورية أكاديمية
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5
المؤلفون: N. Castellani, G. Molas, Marc Bocquet, L. Grenouillet, J-M. Portal, L. Reganaz, Etienne Nowak, T. Magis, C. Carabasse, G. Navarro, D. Deleruyelle, Mathieu Bernard, J. Minguet Lopez
المساهمون: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: 2021 IEEE International Memory Workshop (IMW)
2021 IEEE INTERNATIONAL MEMORY WORKSHOP (IMW)
2021 IEEE INTERNATIONAL MEMORY WORKSHOP (IMW), May 2021, Dresde, Germany. pp.107-110, ⟨10.1109/IMW51353.2021.9439606⟩مصطلحات موضوعية: OTS, Materials science, business.industry, High density, Threshold voltage, chalcogenide, Stack (abstract data type), Scalability, Optoelectronics, resistive RAM, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Crossbar switch, crossbar, business, Low voltage, Scaling, Voltage
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::94a04afe0bb92138e1c6f390ca2ddb15
https://doi.org/10.1109/imw51353.2021.9439606
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6
المؤلفون: F. Mazen, C. Pellissier, C. Jahan, A. Roman, Laurent Grenouillet, N.-P. Tran, M. Bedjaoui, A. Seignard, S. Ricavy, Elisa Vianello, P. Besombes, V. Meli, O. Billoint, Christelle Boixaderas, M. Tessaire, S. Landis, Gabriel Molas, A. Persico, A. Magalhaes-Lucas, P. Dezest, Christelle Charpin-Nicolle, F. Gaillard, S. Bernasconi, R. Segaud, J. Arcamone, Steve W. Martin, C. Carabasse, T. Magis, N. Castellani, Etienne Nowak
المصدر: IEEE International Memory Workshop (IMW)
2021 IEEE International Memory Workshop (IMW)مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Transistor, Spice, Monte Carlo method, Silicon on insulator, law.invention, Power (physics), Non-volatile memory, CMOS, law, Logic gate, Optoelectronics, business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::738ac7f810ad2bba6fdea6405930ae0c
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7
المؤلفون: P. Chiquet, T. Francois, Jean Coignus, Uwe Schroeder, F. Gaillard, Nicolas Vaxelaire, Etienne Nowak, S. Chevalliez, Stefan Slesazeck, Marc Bocquet, Laurent Grenouillet, Thomas Mikolajick, F. Aussenac, C. Carabasse, Claudia Richter
المساهمون: Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), NaMLab gGmbH
المصدر: Applied Physics Letters
Applied Physics Letters, 2021, 118 (6), pp.062904. ⟨10.1063/5.0035650⟩مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Materials science, Physics and Astronomy (miscellaneous), business.industry, Orders of magnitude (temperature), chemistry.chemical_element, 02 engineering and technology, Dielectric, 021001 nanoscience & nanotechnology, 01 natural sciences, Ferroelectricity, law.invention, Back end of line, Capacitor, chemistry, law, 0103 physical sciences, Optoelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, 0210 nano-technology, Tin, business, Polarization (electrochemistry), Scaling
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8
المؤلفون: Elisa Vianello, Gabriele Navarro, T. Magis, Marc Bocquet, Joel Minguet Lopez, Laurent Grenouillet, Gabriel Molas, Francois Andrieu, Damien Deleruyelle, Lucas Reganaz, Manon Dampfhoffer, Tifenn Hirtzlin, C. Carabasse, Jean-Michel Portal
المساهمون: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies (C2N), Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ANR-19-P3IA-0003,MIAI,MIAI @ Grenoble Alpes(2019), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE), Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Aix Marseille Université (AMU)
المصدر: Semiconductor Science and Technology
Semiconductor Science and Technology, 2021, 37 (1), pp.014001. ⟨10.1088/1361-6641/ac31e2⟩
Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2021, 37 (1), pp.014001. ⟨10.1088/1361-6641/ac31e2⟩مصطلحات موضوعية: 0303 health sciences, OTS, business.industry, Computer science, 02 engineering and technology, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, Electronic, Optical and Magnetic Materials, 03 medical and health sciences, chalcogenide, Neural network hardware, Resistive RAM, Materials Chemistry, Electrical and Electronic Engineering, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, 0210 nano-technology, business, crossbar, BNN, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, Computer hardware, 030304 developmental biology
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9
المؤلفون: D. Alfaro Robayo, L. Grenouillet, N. Castellani, Mathieu Bernard, Etienne Nowak, G. Molas, J. Sandrini, C. Carabasse, L. Hudeley, D. Deleruyelle, J-M. Portal, J. Minguet Lopez, Marc Bocquet, G. Navarro
المساهمون: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE), Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Aix Marseille Université (AMU), INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Mar 2021, Monterey, France. pp.1-6, ⟨10.1109/IRPS46558.2021.9405195⟩
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Mar 2021, Monterey, United States. ⟨10.1109/IRPS46558.2021.9405195⟩
IRPSمصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Reliability theory, OTS, Computer science, 01 natural sciences, Resistive random-access memory, chalcogenide, [SPI]Engineering Sciences [physics], Reliability (semiconductor), Stack (abstract data type), Margin (machine learning), 0103 physical sciences, Electronic engineering, Figure of merit, Crossbar switch, resistive RAM, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, crossbar, operation variability, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, Voltage
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c1a5de3df36259700f72d418140f745a
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10
المؤلفون: C. Pellissier, Etienne Nowak, S. Chevalliez, Furqan Mehmood, F. Mazen, T. Francois, Uwe Schroeder, F. Triozon, Sebastien Kerdiles, Thomas Mikolajick, F. Gaillard, Guillaume Rodriguez, T. Magis, Laurent Grenouillet, Viktor Havel, Jean Coignus, C. Carabasse, Nicolas Vaxelaire, Stefan Slesazeck
المصدر: 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology.
مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Materials science, Silicon, business.industry, chemistry.chemical_element, Coercivity, Laser, 01 natural sciences, Ferroelectricity, law.invention, Back end of line, Capacitor, chemistry, CMOS, law, 0103 physical sciences, Optoelectronics, Wafer, business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::27bb758f9903d67ad4cfe33b36d749ea
https://doi.org/10.1109/vlsitechnology18217.2020.9265061
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