-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2دورية أكاديمية
المصدر: Inderscience Enterprises Ltd, European Journal of Industrial Engineering. 5(3):272-291
-
3
المؤلفون: Judith L. King, Laurel C. Catlett-King
المصدر: Labor Studies Journal. 32:5-22
مصطلحات موضوعية: Sociology and Political Science, Movement (music), media_common.quotation_subject, 05 social sciences, 050209 industrial relations, Context (language use), Arts and Humanities (miscellaneous), Law, Political science, 0502 economics and business, Industrial relations, Patriotism, Referendum, Right to work, 050203 business & management, media_common
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::63973da3e3d918a079a39ddfc6824ca1
https://doi.org/10.1177/0160449x06298884 -
4كتاب إلكتروني
المؤلفون: C. Catlett, W. Gentzsch, L. Grandinetti
نوع المادة: eBook.
الموضوعات: Big data, Cloud computing
-
5
المؤلفون: M. Riedel, E. Laure, Th. Soddemann, L. Field, J. P. Navarro, J. Casey, M. Litmaath, J. Ph. Baud, B. Koblitz, C. Catlett, D. Skow, C. Zheng, P. M. Papadopoulos, M. Katz, N. Sharma, O. Smirnova, B. Kónya, P. Arzberger, F. Würthwein, A. S. Rana, T. Martin, M. Wan, V. Welch, T. Rimovsky, S. Newhouse, A. Vanni, Y. Tanaka, Y. Tanimura, T. Ikegami, D. Abramson, C. Enticott, G. Jenkins, R. Pordes, S. Timm, G. Moont, M. Aggarwal, D. Colling, O. van der Aa, A. Sim, V. Natarajan, A. Shoshani, J. Gu, S. Chen, G. Galang, R. Zappi, L. Magnoni, V. Ciaschini, M. Pace, V. Venturi, M. Marzolla, P. Andreetto, B. Cowles, S. Wang, Y. Saeki, H. Sato, S. Matsuoka, P. Uthayopas, S. Sriprayoonsakul, O. Koeroo, M. Viljoen, L. Pearlman, S. Pickles, David Wallom, G. Moloney, J. Lauret, J. Marsteller, P. Sheldon, S. Pathak, S. De Witt, J. Mencák, J. Jensen, M. Hodges, D. Ross, S. Phatanapherom, G. Netzer, A. R. Gregersen, M. Jones, P. Kacsuk, A. Streit, D. Mallmann, F. Wolf, Th. Lippert, Th. Delaitre, E. Huedo, N. Geddes
المساهمون: M. Riedel, E. Laure, Th. Soddemann, L. Field, J. P. Navarro, J. Casey, M. Litmaath, J. Ph. Baud, B. Koblitz, C. Catlett, D. Skow, C. Zheng, P. M. Papadopoulo, M. Katz, N. Sharma, O. Smirnova, B. Kónya, P. Arzberger, F. Würthwein, A. S. Rana, T. Martin, M. Wan, V. Welch, T. Rimovsky, S. Newhouse, A. Vanni, Y. Tanaka, Y. Tanimura, T. Ikegami, D. Abramson, C. Enticott, G. Jenkin, R. Porde, S. Timm, G. Moont, M. Aggarwal, D. Colling, O. van der Aa, A. Sim, V. Natarajan, A. Shoshani, J. Gu, S. Chen, G. Galang, R. Zappi, L. Magnoni, V. Ciaschini, M. Pace, V. Venturi, M. Marzolla, P. Andreetto, B. Cowle, S. Wang, Y. Saeki, H. Sato, S. Matsuoka, P. Uthayopa, S. Sriprayoonsakul, O. Koeroo, M. Viljoen, L. Pearlman, S. Pickle, David Wallom, G. Moloney, J. Lauret, J. Marsteller, P. Sheldon, S. Pathak, S. De Witt, J. Mencák, J. Jensen, M. Hodge, D. Ro, S. Phatanapherom, G. Netzer, A. R. Gregersen, M. Jone, P. Kacsuk, A. Streit, D. Mallmann, F. Wolf, Th. Lippert, Th. Delaitre, E. Huedo, N. Geddes
المصدر: Concurrency Computation Practice and Experience. 21(8)
مصطلحات موضوعية: INTEROPERATION, Computational Theory and Mathematics, Computer Networks and Communications, INTEROPERABILITY, GRID INFRASTRUCTURES, GIN, OPEN STANDARDS, Software, Computer Science Applications, Theoretical Computer Science
وصف الملف: STAMPA
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9
المؤلفون: Steven C. Catlett, Joseph F. Shepard
المصدر: 2008 16th IEEE International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors.
مصطلحات موضوعية: Temperature control, Materials science, business.industry, Annealing (metallurgy), Rapid thermal processing, Thermal resistance, Microelectronics, Wafer, sense organs, Composite material, business, Temperature measurement, Sheet resistance
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::07172bf984720ec98f9d78f81174f3f4
https://doi.org/10.1109/rtp.2008.4690540 -
10
المؤلفون: Steven C. Catlett, R. Logan, Javier Ayala, R. Van Roijen, R. Ramachandran, Joseph F. Shepard, Jeffery B. Maxson, S. Ruegsegger, B. Rawlins, C. Collins, Kevin K. Dezfulian, K. Barker, T. Rust, R. Singh, H. Boiselle
المصدر: 2007 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC).
مصطلحات موضوعية: Product (business), Engineering, Computer-integrated manufacturing, business.industry, Circuit performance, Control (management), Process development execution system, Product testing, Process control, business, Process engineering, Reliability engineering
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::67c76b7cfbd1f983affcd0fd4a688400
https://doi.org/10.1109/asmc.2007.375075