المؤلفون: Lu, Y.Y., Cai, D.L., Chen, Y.F., Zheng, Y.H., Yan, S., Wu, L., Liu, Y.G., Li, Y., Song, Z.T.

المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 19(1):164-168 Mar, 2019

المؤلفون: Li, Y.Z., Li, K.C., Wang, P., Liu, Y., Lin, X.N., Gooi, H.B., Li, G.F., Cai, D.L., Luo, Y.

المصدر: In Energy 1 May 2017 126:810-820

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Xie, H.N., Cai, D.L., Zhu, Y.X., Li, L.J.

المصدر: In Ultrasound in Medicine & Biology 2006 32(5) Supplement:P157-P157

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.