المؤلفون: Lambert, PK, Hustedt, CJ, Vecchio, KS, Huskins, EL, Casem, DT, Gruner, SM, Tate, MW, Philipp, HT, Woll, AR, Purohit, P, Weiss, JT, Kannan, V, Ramesh, KT, Kenesei, P, Okasinski, JS, Almer, J, Zhao, M, Ananiadis, AG, Hufnagel, TC

المصدر: The Review of scientific instruments. 85(9)

مصطلحات موضوعية: X-Ray Diffraction, Materials Testing, Elasticity, Stress, Mechanical, Weight-Bearing, Pressure, Time Factors, Lasers, Semiconductor, Physical Sciences, Chemical Sciences, Engineering, Applied Physics

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://escholarship.org/uc/item/5zd1t425

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.